Gebraucht SEMICS Opus3 #9068355 zu verkaufen

SEMICS Opus3 ist eine fortgeschrittene Prober-Plattform, die von SEMICS entwickelt wurde und eine effiziente Wafer-Sondierung ermöglicht, um die elektrischen Eigenschaften integrierter Schaltungen (ICs) zu messen und zu analysieren. Die Geräte bieten leistungsstarke und benutzerfreundliche Operationen, um Fehler an ICs schnell zu erkennen und ihre Konstruktionen zu optimieren. SEMICS OPUS 3 nutzt die neuesten Fortschritte in der Prober-Technologie, einschließlich voll computergestützter Sondierung, automatisierter Die-to-Die-Vergleichstests und Multi-Die-Scanning-Funktionen. Es ermöglicht auch die automatische Positionierung von Spannfuttern sowie das automatische Laden von Wafern in die Tastköpfe. Dadurch ist Opus3 in der Lage, eine schnelle Messung von ICs zu erreichen sowie zwischen Düsen- und Teildüsenparametern zu unterscheiden. Die hohe Präzision von OPUS 3 ermöglicht es dem Anwender, nicht nur Dunkel- und Hellfeldbildgebung durchzuführen, um ICs-Defekte schnell zu identifizieren, sondern auch subtile Änderungen in elektrischen Parametern zu erkennen. Die Plattform verwendet eine CCD-Kamera, um die Oberflächeninformationen des IC in einer Vielzahl von Bildformaten wie SEM- und TEM-Bildern anzuzeigen. SEMICS Opus3 bietet ein erweitertes Steuerungssystem, das es dem Benutzer ermöglicht, IC-Parameter während des Tastvorgangs anzupassen. Durch die Verwendung der Software Parameter Manager und Probe Program Manager kann der Benutzer die IC-Bedingungen für das höchste Signal-Rausch-Verhältnis und die höchste Testgeschwindigkeit anpassen. Der Benutzer ist auch in der Lage, Sondenrezepte zu parametrieren und Werkzeugparameter sofort mit festen Parametern oder angepassten Rezepten zu aktualisieren. Darüber hinaus bietet die Plattform eine Vielzahl von Messoptionen, wie On-Wafer-Tests und Wafer-Mapping, die es dem Benutzer ermöglichen, verschiedene elektrische Messungen zu erhalten, während ICs an mehreren Prozessknoten verglichen werden. Die Software des Geräts ermöglicht es Benutzern auch, Prüfmusterparameter festzulegen, einschließlich automatischer Rekalibrierung und automatischer Wellenformmessung. Insgesamt ist SEMICS OPUS 3 eine fortschrittliche Prober-Plattform, die eine breite Palette von Funktionen bietet, um ICs schnell zu identifizieren und zu testen. Die Plattform bietet mehrere Messoptionen, automatisierte Sondenoperationen und CCD-Kameraunterstützung für die leistungsstarke Fehlererkennung. Die Maschine bietet auch einen erweiterten Parameter Manager und Probe Program Manager für eine anpassbare und effiziente Bedienung.