Gebraucht SEMICS Opus3 #9298908 zu verkaufen

SEMICS Opus3
Hersteller
SEMICS
Modell
Opus3
ID: 9298908
Weinlese: 2013
Prober 2013 vintage.
SEMICS Opus3 ist ein Prober, der zum Testen und Inspizieren von integrierten Schaltungen (ICs) verwendet wird. Es ist in der Lage, sehr genaue und eingehende Tests von ICs bereitzustellen, die Ingenieuren helfen, Fehler im Prozess zu identifizieren. Dies ermöglicht die Entwicklung zuverlässiger, ertragreicher Produkte. SEMICS OPUS 3 ist ein Sondierungssystem mit variabler Kraft, das aus einer Sondenstation, einer Workstation und einer Benutzeroberfläche besteht. Die Workstation verfügt über eine Multi-Core-GUI für flexible Steuerung und Datenspeicherung. Die Benutzeroberfläche umfasst ein grafisches Display und ein Touchscreen-Display, mit dem der Benutzer verschiedene Testparameter auswählen kann. Es enthält auch ein automatisiertes Testskript zum Einrichten und Ausführen von Tests schnell und einfach. Die Sondenstation ist mit einem 2D/3D-Kernprober und einer universellen Testumgebung ausgestattet. Der 2D/3D-Kernprober ist in der Lage, Messungen über eine Vielzahl von ICs wie Single-Ended, Differential und Mikrowellen-ICs durchzuführen. Es hat auch eine in-situ Druckmessung, die genaue und zuverlässige Ergebnisse gewährleistet. Die universelle Testumgebung wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Testprotokollen durchzuführen. Diese Protokolle können IC elektrische Prüfung und Charakterisierung, Kontaktwiderstandsprüfung, Geräusch- und Übersprechprüfung und thermische Analyse umfassen. All diese verschiedenen Protokolle helfen, ICs über verschiedene Betriebsbedingungen hinweg zu testen und zu verifizieren. Opus3 ist vollautomatisiert für maximale Effizienz und niedrigste Kosten. Es besteht aus mehreren verschiedenen Modulen, die entsprechend den Bedürfnissen des Benutzers ausgewählt und konfiguriert werden können. Außerdem können benutzerdefinierte Skripte erstellt werden, um die Testparameter und -ergebnisse zu steuern. All dies macht OPUS 3 zu einem idealen Prober, um hochgenaue und detaillierte Ergebnisse für IC-Tests zu erhalten.
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