Gebraucht SEMIPROBE SA 12 #9171154 zu verkaufen

SEMIPROBE SA 12 ist ein Prober, der von SEMIPROBE, einem Marktführer auf dem Gebiet der nanoskaligen Sondierung, entworfen und hergestellt wurde. Dieser Prober wurde entwickelt, um eine Vielzahl verschiedener integrierter Schaltungen (ICs) bei hohen Geschwindigkeiten und mit hoher Genauigkeit zu testen. Das Herzstück von SEMIPROBE SA-12 ist sein Präzisionsbewegungssystem bestehend aus drei Achsen, der Z-Achse, der Theta-Achse und der X-Achse. Die Z-Achse bewegt die Prüfsonde in vertikaler Richtung und wird von einem Präzisionsmotor angetrieben, um den im Test befindlichen IC mit einer Geschwindigkeit von bis zu 10 Mikrometer pro Sekunde zu scannen. Die Theta-Achse ermöglicht eine Feindrehkontrolle der Sonde zur Messung der Geräteeigenschaften über einen vollen 360-Grad-Bereich. Schließlich bietet die X-Achse eine Plattform für den im Test befindlichen IC und wird von einem leistungsstarken Linearmotor angetrieben. Der Prober enthält auch einen theo-Druckprüfkopf, der eine Feinabstimmung der Prüfparameter ermöglicht und die Prüfung einzelner Pins ohne Störgeräusche ermöglicht. SA 12 verfügt über einen eingebauten Präzisions-Mikropositionierer, der das Sondieren mit nanoskaliger Genauigkeit ermöglicht. Dank seiner fortgeschrittenen Kontrollalgorithmen und widerspenstiger Echtzeitberührungsabfragungstechnologie kann SA-12 hoch komplizierte Untersuchungszyklen in einer Sache von Sekunden durchführen. Um genaue Ergebnisse zu gewährleisten, ist SEMIPROBE SA 12 mit einem fortschrittlichen Temperaturkompensationssystem ausgestattet, das eine stabile Temperatur in der Sonde aufrechterhält. Diese Temperaturkompensation ermöglicht es dem Prober, die Genauigkeit bei hohen Umgebungstemperaturen aufrechtzuerhalten. SEMIPROBE SA-12 ist auch mit einer Vielzahl von Sicherheitsmerkmalen ausgestattet, einschließlich Überlastschutz, ESD-Schutz und antistatische Abschirmung. SA 12 ist ein hochgenaues und fähiges Prüfgerät. Die Mikrogenauigkeit, die schnellen Zykluszeiten und das fortschrittliche Temperaturkompensationssystem machen es zu einer guten Wahl für die Prüfung von ICs im nanoskaligen Bereich.