Gebraucht SEMIPROBE SA-6 #9241340 zu verkaufen

Hersteller
SEMIPROBE
Modell
SA-6
ID: 9241340
Wafergröße: 6"-12"
Wafer inspection systems, 6"-12" With iso tables Objectives: 10x and 50x.
SEMIPROBE SA-6 prober ist eine vielseitige und leistungsstarke Wafer-Sondierungslösung, die eine Vielzahl von Chips und Wafern handhaben kann. Es wurde entwickelt, um den Testertrag durch präzise Positionierung und Kartierung jedes Werkzeugs mit Präzision zu maximieren. SA-6 verfügt über ein hochpräzises Einzelvakuumfutter und eine vollautomatische Düsenplattenscannung, die manuelle Ausrichtungszeiten eliminiert. Dieser Prober liefert zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse bei geringer Düsen-zu-Düsen-Variation. Es bietet eine Vielzahl von Sondenkarten für verschiedene Anwendungen. SEMIPROBE SA-6 prober besteht aus einer Basiseinheit, einer gescannten Plattform und einer Sondenkarte. Die Basiseinheit umfasst einen leistungsstarken digitalen Signalprozessor (DSP) zur präzisen Wafer-Indexierung und eine mikroprozessorgesteuerte z-Achse zur präzisen Wafer-zu-Sonden-Kartenzuordnung. Die gescannte Plattform kann bis zu 500mm scannen und kann eine Vielzahl von Gesenkformen aufnehmen, einschließlich flach, quadratisch, rechteckig und kreisförmig. Es ermöglicht eine präzise Ausrichtung jeder Matrize auf der Plattform für konsistente Testergebnisse. Die Sondenkarte in SA-6 Prober ist so konzipiert, dass sie präzise und wiederholbare Messungen mit hohen Betriebsgeschwindigkeiten liefert. Es ist für optimale Leistung kalibriert und verfügt über ein Auto-Nivelliersystem für wiederholbare und konsistente Messungen. Es ist auch mit einer großen Auswahl an manuellen oder automatischen Testkopfadaptern für verschiedene Chipgrößen oder Teststrukturen ausgestattet. Neben seinen Präzisionssondenkartenfunktionen bietet SEMIPROBE SA-6 prober eine Vielzahl weiterer Funktionen zur Verbesserung der Testqualität. Dazu gehören integrierte Kraftsteuerungsfunktionen, die Ausrichtungenauigkeiten durch Neigung oder Schieflage beseitigen. Es verfügt auch über einstellbare Dosis-und-Feuer-Intervalle, um Test-zu-Test-Variation zu reduzieren. Darüber hinaus ermöglicht ein integriertes Ebenheitskorrektursystem präzise Messungen über den gesamten gemusterten Wafer. SA-6 Prober ist so konzipiert, dass es auch in der anspruchsvollsten Testumgebung zuverlässige und wiederholbare Ergebnisse liefert. Es verfügt über einen proprietären selbstlernenden Algorithmus, der die Leistung im Laufe der Zeit optimiert. Seine ausfallsichere Technologie wurde entwickelt, um Messkartenfehler oder Kurzschlüsse zu erkennen und zu beseitigen, um zuverlässige Messergebnisse zu gewährleisten. Darüber hinaus bietet die integrierte Protokollierungs- und Diagnosesoftware einen umfassenden Überblick über die Testergebnisse.
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