Gebraucht SIGNATONE 1160 #293774942 zu verkaufen

SIGNATONE 1160 prober ist ein anspruchsvolles und vielseitiges Werkzeug für die Halbleiterprüfung und -charakterisierung. Mit fortschrittlichen Funktionen und Präzisionstechnik bietet 1160 Forschern und Ingenieuren ein hohes Maß an Kontrolle und Zuverlässigkeit bei Sondierungsanwendungen. Dieser Prober ist in Halbleiterlabors, Universitäten und Forschungseinrichtungen für eine Vielzahl von Anwendungen wie Wafer-Sondierung, Gerätecharakterisierung, Fehleranalyse und Prozessentwicklung weit verbreitet. Eines der Hauptmerkmale von SIGNATONE 1160 prober ist seine präzise lineare Bewegungssteuerung. Dieses System ermöglicht die genaue Positionierung von Sonden auf der Probe, um wiederholbare und zuverlässige Messungen zu gewährleisten. Der Prober ist mit hochauflösenden Schrittmotoren ausgestattet, die eine reibungslose und präzise Bewegung in X- und Y-Richtung ermöglichen. Diese Steuerung ist wesentlich für die Sondierung kleiner Pads und Merkmale auf Halbleiterbauelementen im Nanometermaßstab. 1160 prober verfügt auch über ein robustes Spannfutter-Design, das hervorragende Stabilität und Ebenheit für Wafer-Tests bietet. Das Spannfutter ist entworfen, um verschiedene Größen von Wafern unterzubringen, so dass es vielseitig für die Prüfung verschiedener Arten von Halbleiterbauelementen. Das Futter kann leicht ausgetauscht oder aktualisiert werden, um spezielle Anforderungen oder verschiedene Arten von Proben zu erfüllen. Neben der präzisen Bewegungssteuerung und dem Chuck-Design bietet der SIGNATONE 1160 Prober verschiedene Sondierungskonfigurationen, um unterschiedliche Testanforderungen zu erfüllen. Der Prober kann mit mehreren Sonden konfiguriert werden, um mehrere Testpunkte oder Geräte an einer Probe gleichzeitig zu testen. Dieses Merkmal eignet sich besonders für Hochdurchsatzprüfungen oder parallele Messungen. 1160 prober ist auch mit einer hochauflösenden Mikroskopeinheit zur visuellen Inspektion und Ausrichtung von Sonden an der Probe ausgestattet. Das Mikroskop liefert klare und vergrößerte Bilder der Testprobe, so dass der Anwender die Sonden auf den gewünschten Testpunkten genau positionieren kann. Dieses Merkmal ist wesentlich für die Sondierung kleiner und empfindlicher Merkmale auf Halbleiterbauelementen und sorgt für genaue und wiederholbare Messungen. Darüber hinaus ist der SIGNATONE 1160 Prober mit einer breiten Palette von Sondenkarten und Zubehör kompatibel, sodass Benutzer das Setup für spezifische Testanforderungen anpassen können. Der Prober lässt sich einfach mit externen Messgeräten wie Oszilloskopen, Spektrumanalysatoren und parametrischen Analysatoren zur umfassenden Gerätecharakterisierung integrieren. Insgesamt ist 1160 prober ein zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug zur Halbleiterprüfung und -charakterisierung. Mit seiner präzisen Bewegungssteuerung, seinem robusten Chuck-Design, mehreren Sondierungskonfigurationen und seiner Mikroskopmaschine bietet der Prober Forschern und Ingenieuren die Flexibilität und Genauigkeit, die für fortgeschrittene Halbleitertestanwendungen erforderlich sind. Ob für Wafer-Sondierung, Gerätekennzeichnung, Fehleranalyse oder Prozessentwicklung, SIGNATONE 1160 prober ist ein wertvolles Werkzeug für die Halbleiterforschung und -entwicklung.