Gebraucht SIGNATONE S-250 #83195 zu verkaufen

SIGNATONE S-250 „Deep Level Prober“ ist ein leistungsstarkes, vollautomatisiertes, multifunktionales Sondierungs- und Testsystem zur Halbleiterbauelementcharakterisierung. S-250 ist ein umfassender Halbleiter-Wafer-Prober, der sowohl für Silizium als auch für Verbundmaterialien verwendet werden kann. Es verfügt über vier Köpfe, die eine breite Palette von Mikrosonden- und Spannfuttermustern aufnehmen können, so dass ein genauer und wiederholbarer Kontakt zur Vielzahl von Teststrukturen und -strukturen mit allen möglichen Stiftabständen, Steigungsabständen und Steigungswinkeln möglich ist. Der Prober ist in der Lage, genaue Mikrometermessungen in Nanometer- und Mikrometereinheiten zu positionieren und zu liefern, was eine präzise Datenerfassung und -analyse ermöglicht. Es unterstützt auch eine präzise elektrische Auswertung bis zu 10GHz. Es kommt mit einem hochauflösenden 8-Zoll-Farb-Touchscreen, der flexible Bedienung, Echtzeit-Steuerung und präzises Plotten von Daten ermöglicht. Der Prober hat vier Köpfe mit Pogo-Pins, Sonden und Kuchen-Pads ausgestattet. Es ist für verschiedene Kopftypen, Adapter und Sonden wie leitfähige Sonden, Laserdioden und thermische Wärmediode ausgelegt. Pogo-Pins werden zur hochgenauen Sondierung von ULSI- und Gate-Array-Platten verwendet, während Kuchen-Pads zur Wafer-Sondierung verwendet werden. Der Vierkopfprober ermöglicht es, vier verschiedene Stellen gleichzeitig oder in beliebiger Kombination zu sondieren. SIGNATONE S-250 bietet eine große Auswahl an benutzerdefinierbaren Sondierungstechniken zur Erzeugung wiederholbarer Daten für eine hohe Genauigkeitsleistung. Die leistungsstarke Probenheizung und das Kühlsystem ermöglichen eine effiziente Probenoptimierung verschiedener Anwendungsbereiche. Der Prober ist in der Lage, Pläne wie Temperaturrampenrate, Verweilzeit und Pausenzeit zu steuern, um statische oder dynamische Parameteränderungen in zerstörerischen oder zerstörungsfreien Testkonstruktionen zu überwachen. Der Prober ist mit einem intuitiven benutzerfreundlichen Betriebssystem ausgestattet, um Lehren, Bedienung und Debugging zu vereinfachen. Es bietet sowohl grafische als auch Textmodusprogrammierung mit integrierter Automatisierungs-, Controlling-, Datenerfassungs- und Analysesoftware. Es bietet die vollständige Konturzuordnung Visualisierung der Sondierung von Daten über Wafer-Begrenzung und Muster. Die Datenerfassungs- und Analysefunktionen werden durch die interne SAW-100-Software SIGNATONE mit integrierten Skript- und Netzwerkoptionen ermöglicht. S-250 ist ein präziser Halbleiter-Wafer-Prober, der zuverlässige Leistung und schnelle Wende gewährleistet und gleichzeitig eine hohe Qualität der Leistung gewährleistet. Es stellt eine perfekte Verschmelzung innovativer Technologie dar, die eine präzise und kontrollierte Performance-Lösung für diesen kritischen Prozess bietet.