Gebraucht SIGNATONE S-301-6 #9359243 zu verkaufen

SIGNATONE S-301-6 prober ist eine hochpräzise und fortschrittliche Wafer-Sondierungsausrüstung, die für High-Speed, Fine Pitch und zuverlässige Wafer-Sondierung in Forschung, Entwicklung und Produktion entwickelt wurde. Es ist ideal zum Testen von Halbleiterbauelementen wie MEMs, MEMC, SOI und CMOS-Bauelementen. Das System ist mit einer 6-Achsen-Kalibriereinheit ausgestattet, die eine automatische und genaue Ausrichtung, Indexierung, Steigungsmessung und Steigungssteuerung ermöglicht. Die 6-Achsen-Maschine wird von einer hochgeschwindigkeitsmotorisierten Translationsstufe angetrieben und ermöglicht den Einsatz von bis zu sechzehn einstellbaren Sondennadeln. Mit den Sondennadeln können sowohl vertikale als auch laterale elektrische und optische Parameter gemessen werden. Der Prober ist auch mit einer Autofokus-Kamera ausgestattet, die eine LED-basierte Lichtquelle zur automatisierten Waferausrichtung und automatischen Wafer-Handhabung verwendet. Eine hochauflösende Kamera und Vision-Tool sorgen für genaue und wiederholbare Sondierung. Das Asset verfügt über eine benutzerfreundliche nachrichtenbasierte Oberfläche, über die der Benutzer Befehle für jede Sequenz auf dem Prober gibt. Der Benutzer kann auch Einstellungen und Profile für wiederholte Messungen erstellen. S-301-6 Prober bietet genaue, wiederholbare Messungen und schnelle Manipulation von Wafern. Es ist voll kompatibel mit verschiedenen beliebten Auto-Probe und Scanning Probing Machines (SPM). Es ist auf die Kompatibilität mit dem IEEE Signal Probing Standard (IEEE 1587.1) ausgelegt und ist mit vielen verschiedenen Tipps kompatibel. Die 4-in-1-Sondenstation ermöglicht die gleichzeitige Verwendung von 4 Sonden und kann die Sondierung bis zu einer Größe von 6 Zoll unterstützen. Die Sondenstation verwendet mehrere verstellbare Sondenspitzen für optimalen Kontakt und verfügt über einen eingebauten Wärmetauscher zur Wärmeableitung. Das Modell verfügt auch über einen verstellbaren UV-Well-Plattenhalter, der bis zu 24 Brunnen aufnehmen kann und für den Einsatz mit Standard-UV-Küvetten konzipiert ist. Darüber hinaus bietet das integrierte Wafer-Futter und -Fach eine sichere Plattform für die automatisierte Platzierung von Wafern und die Prüfung großer Wafer-Geräte. Der fortschrittliche und präzise Prober kann verwendet werden, um verschiedene Parameter wie Kurzwiderstand, Gateleckage und Einschaltstrom, Stromausfälle, Widerstandskapazitätswerte und Schwellenspannungen zu testen. Das System bietet auch eine breite Palette von Frequenzmessungen wie Streuparameter und Time Domain Reflectometry (TDR) Messungen. SIGNATONE S-301-6 prober hat sich zu einem zuverlässigen und vertrauenswürdigen Werkzeug zur Messung und Prüfung verschiedener Halbleiterbauelemente entwickelt. Das umfassende Merkmal macht es zu einer idealen Wahl für Tests und Messungen in Forschung, Entwicklung und Produktion. Die einfache Bedienung, hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit sowie ein breites Spektrum an Funktionen ermöglichen eine schnellere und präzisere Prüfung von Komponenten.