Gebraucht SPEA 4030 #9252475 zu verkaufen

SPEA 4030 ist ein fortschrittlicher Prober, der für die hochpräzise Sondierung von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Es ist ein vollautomatischer, Hochgeschwindigkeits-Prober mit außergewöhnlicher Präzision und der Fähigkeit, Merkmale bis zu 0,1 µm auf Wafern von bis zu 12 Zoll Durchmesser zu messen. 4030 nutzt ein neues optisches Interferometrie-Sondierungssystem (OIP) mit der Fähigkeit, sich an sich ändernde Wafergrößen anzupassen, bietet bis zu 15 Mikrometer vertikale Fahrt und bietet auch eine Wiederholbarkeit von ± 0,5 µm. Die Sonde ist auch mit einer Offset-Fähigkeit von ± 2.5µm ausgelegt, um die neueste Generation von großen und kleinen Gerätepads aufzunehmen. Der automatisierte Prober ist mit einer motorisierten XY-Stufe ausgestattet, die sich mit einer Genauigkeit von ± 2,5µm bis zu 1mm/s bewegen kann. Das L-förmige Formkartensystem ermöglicht eine hohe Präzision bei der Ortung von Wafern zur Sondierung mit einer Genauigkeit von ± 0,5 µm. Um die höchste Genauigkeit zu gewährleisten, kommt SPEA 4030 mit einer Vielzahl von erweiterten Funktionen, einschließlich automatisierter Druckkompensation, variable Geschwindigkeitseinstellung und drahtloses Design. Der automatisierte Druckausgleich sorgt für eine gleichmäßige Kraftverteilung über den Wafer für optimale Ergebnisse. Darüber hinaus kann die Bewegungsfähigkeit des Probers zwischen verschiedenen Positionen auch mit einer hochpräzisen Steuerung angepasst werden. Dies ermöglicht die Feinabstimmung der Waferstellen während des gesamten Prozesses. Wie die meisten Präzisionsprober kommt 4030 auch mit einer Analysestation, die Daten liefert, die helfen können, Fehler bei Tests und Messungen zu erkennen und zu beseitigen. Dadurch wird sichergestellt, dass der Prober auch für die Messung der komplexesten Geräte verwendet werden kann. SPEA 4030 ist eine äußerst zuverlässige und kostengünstige Lösung für Präzisionssondierung. Mit seinen fortschrittlichen Eigenschaften und Zuverlässigkeit ist es ein wesentliches Werkzeug für viele Labors in der Halbleiterindustrie geworden.