Gebraucht SPEA 4040 Series 4 #9215180 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9215180
Weinlese: 2000
Flying probe tester
Instruments:
Driver: DRI1 (10V 1A)
Function generator: FUNGEN1 (100 KHz 20Vpp)
Measurement unit: AMEAS1
Analogue guard: AGUARD1
Power supplies:
(2) XAPS02 12V 2A Fixed
(2) XAPS02 15V 2A Fixed
(2) XAPS05 5V 2A Fixed
Scanner card: SCAN1
Additional: (5) Z-Axis replacement heads
2000 vintage.
SPEA 4040 Series 4 Prober ist eine zuverlässige Prüf- und Sondierungsplattform für Halbleiterhersteller. Es wurde entwickelt, um wiederholbare und hochgenaue Testergebnisse mit überlegenem Durchsatz zu liefern. Der Prober ist mit einem 4-achsigen Wafer-Handling-System ausgestattet, das das schnelle Be- und Entladen von Wafern sowie eine präzise Zentrierung und Ausrichtung unterstützt. Es kommt auch mit einer Reihe von verschiedenen Sonden, einschließlich Multi-Sonden, Einzel- und Dual-Nadel-Sonden, und Joint-Sonden. Der Prober bietet eine hohe Flexibilität und ist für verschiedene Größen von Wafern von 6 bis 9 Zoll Durchmesser ausgelegt. Darüber hinaus ist es in der Lage, sowohl Kontakttypprüfung und berührungslose Prüfung, wie Kapazität-Spannungs-Messungen, Strom-Spannungs-Prüfung, Material elektrische Eigenschaftsmessungen, etc. durchführen. Es ist auch für einen effizienten Betrieb durch Optimierung der Testzeiten, wie z.B. durch automatische Pad-Kompensation, konzipiert. 4040 Serie 4 Prober ist für eine breite Palette von Halbleitertestanwendungen konzipiert und verfügt über ein robustes Softwarepaket mit einer benutzerfreundlichen grafischen Oberfläche. Es bietet erweiterte Test- und Manipulationsmöglichkeiten wie parallele Anwendung mehrerer Sonden und Testmuster, automatisierte Optimierung von Testbedingungen und schnelle Datenanalyse. In Bezug auf die Genauigkeit bietet der Prober ein hochgenaues Messsystem mit Linearität und Wiederholbarkeit. Die Messgenauigkeit liegt den Angaben zufolge im Bereich von +/- 0,001 Zoll. Es verfügt außerdem über ein abnehmbares Kopf-Platten-Design für einen bequemen Austausch und ein optionales Wafer-Futter, das angepasst werden kann, um verschiedene Waferdicken aufzunehmen. Um die Sicherheit im Betrieb zu gewährleisten, ist der Prober mit verschiedenen Sensorsystemen zur Erkennung von Fehlern, Fehlstellungen und anderen betriebsbedingten Fehlern ausgestattet. Darüber hinaus bietet die Software-Suite eine softwarebasierte Erkennung unangemessener Bewegungsbahnen und Fehlersignale. Insgesamt ist SPEA 4040 Series 4 Prober ein zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug, das wiederholbare und genaue Ergebnisse sowie einen hohen Durchsatz liefert. Es ist eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Halbleitertestanwendungen.
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