Gebraucht SPEA 4040 #9145863 zu verkaufen

SPEA 4040 ist ein Prober zur Messung von Halbleiterscheiben zur Diagnose kritischer Halbleiterparameter und Kristalleigenschaften. 4040 ermöglicht es Benutzern, die Oberflächenrauhigkeit, Topographie, Gesamtform und elektrische Eigenschaften des Wafers mit einer hohen Genauigkeit und Präzision zu analysieren. SPEA 4040 verfügt über einen 500 mm x 400 mm großen Tisch und bietet eine breite Palette von Funktionen zur Messung von Wafern bis 300 mm Durchmesser. Der Prober ist entworfen, um eine breite Palette von elektrischen Messungen einschließlich Kapazität, Widerstand, Transkonduktanz, Leckage, Oberflächenpotential, Spannung, Kobaltprüfung und mehr zu machen. Die integrierte Software von 4040 macht es einfach, die Ergebnisse des Probers zu erfassen, zu visualisieren, zu analysieren und zu berichten. Neben der fortschrittlichen Oberflächenabbildungstechnologie kann die fortschrittliche Bandabbildungstechnologie wertvolle Informationen über das Oberflächenpotenzialprofil des Wafers liefern. Darüber hinaus verfügt SPEA 4040 über ein einzigartiges Kontaktverifizierungssystem, das Kontaktszenarien minimiert und Verunreinigungen und Staub auf der Oberfläche des Wafers reduziert. Darüber hinaus kann das System die Ergebnisse aus dem Prober auf verschiedene technische Parameter beziehen, um genaue, wiederholbare und zuverlässige Messungen zu gewährleisten. 4040 verfügt über eine integrierte Benutzeroberfläche, die eine einfache Bedienung ermöglicht und schnelle und effektive Messungen ermöglicht. Darüber hinaus ist der Prober mit einer erweiterbaren Architektur konzipiert, die die Skalierbarkeit fördert und die Integration mehrerer Hardware-, Software- und Datenerfassungssysteme innerhalb einer einzigen Plattform ermöglicht. SPEA 4040 ist in der Lage, kritische Betriebsparameter wie Temperatur, Druck, Luftfeuchtigkeit und andere Umgebungsbedingungen beizubehalten und ist damit das ideale Gerät für qualitativ hochwertige Halbleiterprüfungen. Darüber hinaus werden die stark abgeschirmten Stufen des Probers die Auswirkungen von Elektromagnetismus und anderen Umweltstörungen minimieren und zuverlässige Messungen gewährleisten. Abschließend ist 4040 robuster Prober, der speziell für Halbleiter-Wafer-Tests entwickelt wurde. Mit seinen erweiterten Funktionen, seinem breiten Leistungsspektrum und der benutzerfreundlichen Schnittstelle ist SPEA 4040 eine zuverlässige und zuverlässige Lösung für jede Halbleiter-Wafer-Testanwendung.