Gebraucht SPEA 4040 #9199488 zu verkaufen
Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.
Tippen Sie auf Zoom
Verkauft
ID: 9199488
Weinlese: 2006
Flying probe tester
Operating system: Windows 2000 Professional
X, Y, Z Axes: 1.2 Micron resolution
Large test area: Up to 686 x 610 mm (27" x 24")
(2) Top cameras
(4) Top probes
In-line board loader
Automatic Cassette Feeder (ACF) included
Shuttle board loader
Front loader
Combined board loading
Boundary scan:
Infrastructure test (Integrity)
Interconnection test
Boundary scan ICT test
In-boundary scan test
Optical test:
Correct orientation components
Character and symbol recognition
Presence / Absence components
Solder paste control
Hardware:
PCB Modules:
SCAN1
XAMIS
XADRIV-1
XADRIV-2
XABOST30/S-1
XABOST80/S-4
XAGAU2
DIAG-340
ANSEMOD B
Mod01 E68340
(2) Mod03 DI16I0A-7
(4) Mod04 DI16I0A-7
Power supply:
208 V, 3 Phase
380 V, 3 Phase adapted
2006 vintage.
SPEA 4040 ist ein Prober, der für die Sortierung und Prüfung von Wafern mit hohem Durchsatz ausgelegt ist. Es ist ein, Hochleistungshopräzisionssystem, das verwendet werden kann, um integrierte Stromkreise, Transistoren, Widerstände und andere Bestandteile zu prüfen. 4040 besteht aus einer Basiseinheit, einer Steuereinheit, einer Sondeneinheit und einem Prüfkopf. Die Basiseinheit enthält die Stromversorgung, den Verstärker und die Hauptplatine. Die Steuereinheit dient zur Steuerung und Überwachung des Probers. Die Sondeneinheit enthält die Kontaktsonden, deren Träger und Treiber sowie die Sondenkartenhalter. Der Prüfkopf besteht aus Prüfkopfrahmen, Probenplatte und Probenplattengondeln. Der Prober kann für eine Vielzahl von Testanwendungen eingerichtet und programmiert werden. Sie kann so eingerichtet sein, daß sie wahlweise einen beliebigen Stift oder eine beliebige Kombination von Stiften an einer Vorrichtung sondiert, um dessen Eigenschaften zu messen. Der Prober kann auch eingerichtet werden, um alle Stifte an einem Teil für eine vollständige Charakterisierung zu testen. SPEA 4040 hat eine sehr schnelle Sortiergeschwindigkeit. Es kann einen 2-Zoll-Wafer in etwa einer Minute und einen 4-Zoll-Wafer in etwa zwei Minuten sortieren. Der Prober hat auch eine sehr empfindliche Sondierfähigkeit. Seine empfindlichen Kraft- und Strommessungen ermöglichen es ihm, auch kleinste Veränderungen der Eigenschaften des Wafermaterials zu erkennen, was es ideal für die Fehlerdiagnose macht. Der Prober hat eine robuste mechanische Konstruktion, die den Betrieb in rauen Umgebungen ermöglicht. Es hat auch konfigurierbare Wiederholbarkeit und off-normale Funktionen, so dass es die gleichen Testbedingungen für mehrere Geräte zurückrufen und wiederholen kann. Schließlich hat 4040 mehrere Sicherheitsmerkmale. Es verfügt über All-Stop-Noteingänge, Alarme, Wagen mit eingebauten Sicherheitsvorrichtungen und einen bordeigenen Sicherheitsmonitor. All diese Funktionen stellen sicher, dass der Betrieb sicher und effizient ist. Zusammengefasst bietet SPEA 4040 prober eine schnelle, genaue und zuverlässige Testlösung für eine Vielzahl von Geräten. Es ist mit mehreren Sicherheitsmerkmalen ausgestattet, so dass es für den Einsatz in gefährlichen Umgebungen geeignet ist. Seine Fähigkeit, einen Wafer schnell zu sortieren und sensible Sondierungsfunktionen bereitzustellen, macht ihn zu einer idealen Wahl für Wafer-Sortier- und Komponententests mit hohem Durchsatz.
Es liegen noch keine Bewertungen vor