Gebraucht SPEA 4040 #9199488 zu verkaufen

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Hersteller
SPEA
Modell
4040
ID: 9199488
Weinlese: 2006
Flying probe tester Operating system: Windows 2000 Professional X, Y, Z Axes: 1.2 Micron resolution Large test area: Up to 686 x 610 mm (27" x 24") (2) Top cameras (4) Top probes In-line board loader Automatic Cassette Feeder (ACF) included Shuttle board loader Front loader Combined board loading Boundary scan: Infrastructure test (Integrity) Interconnection test Boundary scan ICT test In-boundary scan test Optical test: Correct orientation components Character and symbol recognition Presence / Absence components Solder paste control Hardware: PCB Modules: SCAN1 XAMIS XADRIV-1 XADRIV-2 XABOST30/S-1 XABOST80/S-4 XAGAU2 DIAG-340 ANSEMOD B Mod01 E68340 (2) Mod03 DI16I0A-7 (4) Mod04 DI16I0A-7 Power supply: 208 V, 3 Phase 380 V, 3 Phase adapted 2006 vintage.
SPEA 4040 ist ein Prober, der für die Sortierung und Prüfung von Wafern mit hohem Durchsatz ausgelegt ist. Es ist ein, Hochleistungshopräzisionssystem, das verwendet werden kann, um integrierte Stromkreise, Transistoren, Widerstände und andere Bestandteile zu prüfen. 4040 besteht aus einer Basiseinheit, einer Steuereinheit, einer Sondeneinheit und einem Prüfkopf. Die Basiseinheit enthält die Stromversorgung, den Verstärker und die Hauptplatine. Die Steuereinheit dient zur Steuerung und Überwachung des Probers. Die Sondeneinheit enthält die Kontaktsonden, deren Träger und Treiber sowie die Sondenkartenhalter. Der Prüfkopf besteht aus Prüfkopfrahmen, Probenplatte und Probenplattengondeln. Der Prober kann für eine Vielzahl von Testanwendungen eingerichtet und programmiert werden. Sie kann so eingerichtet sein, daß sie wahlweise einen beliebigen Stift oder eine beliebige Kombination von Stiften an einer Vorrichtung sondiert, um dessen Eigenschaften zu messen. Der Prober kann auch eingerichtet werden, um alle Stifte an einem Teil für eine vollständige Charakterisierung zu testen. SPEA 4040 hat eine sehr schnelle Sortiergeschwindigkeit. Es kann einen 2-Zoll-Wafer in etwa einer Minute und einen 4-Zoll-Wafer in etwa zwei Minuten sortieren. Der Prober hat auch eine sehr empfindliche Sondierfähigkeit. Seine empfindlichen Kraft- und Strommessungen ermöglichen es ihm, auch kleinste Veränderungen der Eigenschaften des Wafermaterials zu erkennen, was es ideal für die Fehlerdiagnose macht. Der Prober hat eine robuste mechanische Konstruktion, die den Betrieb in rauen Umgebungen ermöglicht. Es hat auch konfigurierbare Wiederholbarkeit und off-normale Funktionen, so dass es die gleichen Testbedingungen für mehrere Geräte zurückrufen und wiederholen kann. Schließlich hat 4040 mehrere Sicherheitsmerkmale. Es verfügt über All-Stop-Noteingänge, Alarme, Wagen mit eingebauten Sicherheitsvorrichtungen und einen bordeigenen Sicherheitsmonitor. All diese Funktionen stellen sicher, dass der Betrieb sicher und effizient ist. Zusammengefasst bietet SPEA 4040 prober eine schnelle, genaue und zuverlässige Testlösung für eine Vielzahl von Geräten. Es ist mit mehreren Sicherheitsmerkmalen ausgestattet, so dass es für den Einsatz in gefährlichen Umgebungen geeignet ist. Seine Fähigkeit, einen Wafer schnell zu sortieren und sensible Sondierungsfunktionen bereitzustellen, macht ihn zu einer idealen Wahl für Wafer-Sortier- und Komponententests mit hohem Durchsatz.
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