Gebraucht SPEA 4040 #9256464 zu verkaufen

SPEA 4040 ist ein Prober, der von SPEA, einem Schweizer Testgerätespezialisten, entworfen und hergestellt wurde. 4040 prober ist ein physikalisches Testwerkzeug, mit dem ein Benutzer schnell und genau Messungen vornehmen und Daten aus Komponenten auf Waferebene extrahieren kann. Es unterstützt eine breite Palette von Wafern, einschließlich der verschiedenen Packungsgrößen, verschiedene Schichttypen und sogar mehrere Masseschichten. SPEA 4040 hat eine hohe Genauigkeit und eine niedrige min & max Testzeit, so dass es für die Serienproduktion geeignet ist. 4040 prober wird mit einer XY-Drehstufe geliefert, die die Wafer in der X-, Y- und Z-Achse bewegen kann. Es verfügt über ein integriertes Vision-System, das eine hohe Positionsgenauigkeit über mehrere Schichten und Arten von Wafern ermöglicht. Darüber hinaus verfügt SPEA 4040 über ein integriertes, hochauflösendes LCD-Display, um die genaue Position des Wafers zu überwachen und Anomalien schnell zu lokalisieren. Der Prober hat auch die Fähigkeit, mehrere elektrische Parameter wie Widerstand, Strom, Temperatur, Leistung und Spannung zu erfassen, zu messen und zu analysieren. Es umfasst auch Datenerfassung Hardware und Software, die in Wafer automatisierte Tests unterstützen. Dieses automatisierte Testsystem erspart manuelle Tests und spart Zeit und Aufwand. 4040 prober ist mit einem offenen Plattformdesign ausgestattet, das eine einfache Anpassung und Integration externer Komponenten oder Software ermöglicht. Es verfügt über ein benutzerfreundliches Betriebssystem, das minimale Benutzereingaben erfordert und kundenfreundliches Feedback liefert. SPEA 4040 prober ist für den Einsatz in einer Vielzahl von Fertigungsanwendungen wie Qualitätskontrolle, Produktvalidierungen und Fehlerdiagnosetests vorgesehen. Es ist auch mit einer breiten Palette von Komponentenpaketen kompatibel, so dass es für viele verschiedene Anwendungen geeignet ist. Insgesamt ist 4040 ein zuverlässiger, genauer und benutzerfreundlicher Prober, der von SPEA entwickelt wurde, um den Anforderungen der ständig wachsenden Nachfrage der Halbleiterindustrie nach schnelleren und genaueren Wafertests gerecht zu werden. Es bietet ein hohes Maß an Flexibilität und Leistung, so dass Ingenieure und Techniker elektrische Parameter auf einer Vielzahl von Wafern schnell und genau analysieren können.