Gebraucht SPEA 4060 S2 #9282914 zu verkaufen

SPEA 4060 S2 ist ein automatisierter Halbleiter-Wafer-Handling-Prober. Es wurde entwickelt, um den Anforderungen von Test- und Brennvorgängen für integrierte Schaltungen gerecht zu werden, mit einem Fokus auf ICs mit Kontakten mittlerer bis hoher Dichte oder einer feinen Auflösung der Funktionen. 4060 S2 hat ein zweiachsiges Design, mit einem Wafer-Handhabungsarm, der entlang der langen Achse des Probers bewegt und einem Kontaktarm, der sich entlang der Querachse bewegt. Dieses zweiachsige System ermöglicht eine präzise Positionierung des Kontaktarms, um eine genaue Sondierung zu gewährleisten. Der Prober ist außerdem mit einer Mustererkennungsfähigkeit ausgestattet, die eine effiziente Ausrichtung des Wafers auf den Kontaktarm ermöglicht. Diese erweiterte Funktion ermöglicht das einfache Wechseln zwischen verschiedenen Wafergrößen und -formen. Darüber hinaus wurde SPEA 4060 S2 mit integrierten Pass/Fail-Reporting-Funktionen entwickelt, um die Effizienz in der Produktionsbahnprüfung zu verbessern. Der Prober kommt auch mit fortschrittlichen Sicherheitsfunktionen, um sicherzustellen, dass der Prozess sicher und genau durchgeführt wird, ohne den gesamten Prozess zu beschädigen. Der Prober ist mit berührungssicheren Schaltern ausgestattet, was bedeutet, dass Benutzer die Waferbewegung aussetzen können, um die Wahrscheinlichkeit von Kontaktfehlern oder anderen bedienungsbedingten Fehlern zu verringern. Darüber hinaus verfügt 4060 S2 auch über ein elektromechanisches Sicherheitstor, das aktiviert wird, wenn es einen potentiellen Kontakt erfasst. In puncto Performance kann SPEA 4060 S2 Probing-Operationen mit Geschwindigkeiten von bis zu 5 Millisekunden pro Kontaktstelle durchführen. Das Design des Probers ermöglicht auch eine maximale Kalibriergenauigkeit von 4,0 mm Peak-to-Peak, was ihm eine ausgezeichnete Genauigkeit bei der Messung einzelner Kontaktpunkte verleiht. Weitere Merkmale von 4060 S2 umfassen eine breite Palette von Kraftsteuerungsparametern, so dass Benutzer die Kraft, die zum Kontakt mit dem Wafer verwendet wird, einstellen können, um Schäden an der integrierten Schaltung oder dem Wafer zu minimieren. Insgesamt ist SPEA 4060 S2 ein vielseitiger und präziser Halbleiter-Wafer-Handling-Prober, perfekt für die Kontaktprüfung mit mittlerer bis hoher Dichte. Mit seinen erweiterten Mustererkennungs-, Pass/Fail-Reporting-Funktionen, Sicherheitsfunktionen und leistungsstarken Funktionen ist es eine ausgezeichnete Wahl für Test- und Brennvorgänge.