Gebraucht TAKAYA APT 3050 #293596459 zu verkaufen

Hersteller
TAKAYA
Modell
APT 3050
ID: 293596459
Weinlese: 2004
Circuit tester Computer Cards: A, B, C 9-Pin cards 2004 vintage.
TAKAYA APT 3050 ist ein hochmoderner Prober, der für Wafer-Sondierungsanwendungen und andere IC-Pakettests und Debugging-Aktivitäten entwickelt wurde. Der Prober ist in der Lage, hohe Präzision und Wiederholbarkeit in der Prüfung und Auswertung der heutigen fortschrittlichen Halbleiterbauelemente bereitzustellen. Die Sondenkammern von TAKAYA APT-3050 verfügen über 20.000 Mikro-Sonden, die eine parallele Prüfung mehrerer Geräte und eine gleichzeitige Prüfung einzelner Geräte in verschiedenen Modi ermöglichen. Der Mechanismus basiert auf einem Luftlagerdesign für eine sichere, genaue und glatte Kontaktübertragung und bietet einen zuverlässigen Betrieb auch bei sehr niedrigem Druck. Der Prober ist zusätzlich mit rund 25 Hochleistungs-LEDs ausgestattet, die eine überlegene Beleuchtung für eine genaue Bildaufnahme bieten. APT 3050 basiert auf einem 8-Axis XYZ-System und verfügt über standardmäßige 9-Axis Optionen zur vollständigen Gerätekennzeichnung und -bewertung. Der Prober ist ideal für verschiedene Anwendungen wie manuelle Wafer-Sondierung und Char-Acterisation, lokalisierte Sondierung und Stempelprüfung, High-Speed-Wafer-Sortierung und High-Density-Sondierung. Weitere Funktionen umfassen Tests an mehreren Standorten, automatische Handhabung, Charakterisierung mehrerer Standorte und Echtzeit-Datenerfassung und -analyse. Der Prober ist auch mit einer Vielzahl von automatisierten Funktionen wie Hochgeschwindigkeits-Autofokus, präzise Niederkraft-Luftkugelkontaktsonde, kontaminationsfreier Betrieb, zusammen mit Bibliotheksträger und hochpräzise Bewegungssteuerung ausgestattet. Die Benutzeroberfläche ist beintuitiv gestaltet, mit einem ergonomischen Controller mit dedizierten Funktionstasten sowie Dateneingabefeldern. Um Anwendungen optimal zu unterstützen, umfasst APT-3050 auch eine Reihe von Software-Tools für die Online-Analyse, Bildverarbeitung und statistische Datenverarbeitung. TAKAYA APT 3050 ist eine ideale Lösung für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiterindustrie. Seine präzisen und wiederholbaren Testfunktionen sind sowohl wirtschaftlich als auch flexibel und ermöglichen es Kunden, Geräte kostengünstig bis auf Mikroniveau zu charakterisieren und zu bewerten. Der Prober bietet überlegene Präzision, langfristige Zuverlässigkeit und robuste Leistung für alle Anforderungen an Forschung, Entwicklung oder Produktionsprüfung.
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