Gebraucht TAKAYA APT 8400 #293823261 zu verkaufen

TAKAYA APT 8400 ist ein Prober für unkonventionelle hochpräzise Sondierung, Inspektion und Prüfung von Mikroelektronik und Halbleiterbauelementen. Es bietet Flexibilität und hohe Genauigkeit mit seinem überlegenen Mehrzonen-Hochauflösungsdesign und einem verlängerten Fokusarm. Mit einem 5-Zonen-Bildgebungssystem kann APT 8400 Dünnfilm-Photomasken und -Wafer mit Auflösungen bis 0,5 Mikrometer genau messen. Seine einzigartige Mehrzonenarchitektur ermöglicht eine optimale Signalrückgewinnung und minimiert die Auswirkung von Off-Axis-Signalen, was zu vielfältigen und kritischen Quell- und Messvorgängen führt. Seine erweiterten Sondierungsbereiche bieten dem Benutzer eine erhöhte Komfortbewertung und erhöhte Maßmessgenauigkeit. Die 8400 verfügt über eine integrierte zweiachsige Drehstufe, die sie für 3D-Messungen geeignet macht. Die Achse dreht sich bei Kontakt mit dem Teil, wodurch eine genaue Positionierung der Sondenspitze gewährleistet ist. Es verfügt über integrierte Ausrichtungs- und Bildanalysefunktionen, die eine genaue Prüfung mehrerer Teile mit derselben Geometrie ermöglichen. TAKAYA APT 8400 Prober ist in der Lage, schnelle Signalprüf- und Analyseanwendungen zu verwenden, die einen maximalen Produktionsdurchsatz ermöglichen. Es unterstützt die Signalanalyse mit schnellen Datenerfassungssystemen und einem Spektralanalysator zur Signalamplituden- und Reinheitsüberwachung. Es bietet auch flexible Optionen zur Einstellung mehrerer Parameter für optimale Messergebnisse. Der Prober ist auf einfache Bedienung mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche und ergonomischer Navigation ausgelegt. Es unterstützt mehrere automatisierte Aufgabenfunktionen wie Programmierbarkeit, Automatisierungsskript-Funktionen und Parametereinstellungen. Darüber hinaus ist der 8400 mit variablentoleranter Positionier- und Mikroausrichtungstechnologie ausgestattet, die eine genaue Messung und Prüfung schwieriger Geometrien gewährleistet. Insgesamt ist APT 8400 ein leistungsfähiger und präziser Prober, der sich zur Inspektion und Prüfung komplexer Geometrien von Mikroelektronik und Halbleiterbauelementen eignet. Das Mehrzonen-Bildgebungssystem, der erweiterbare Sondierungsbereich und die intuitive Benutzeroberfläche machen es zu einer leistungsstarken Wahl für eine verbesserte Prozesskontrolle, Genauigkeit und Wiederholbarkeit.