Gebraucht TAKAYA APT 8400 #9254104 zu verkaufen

TAKAYA APT 8400 ist ein fortschrittlicher Prober zur Sondierung von anwendungsspezifischen ICs (ASICs) mit hoher Pin-Anzahl. Der Prober umfasst einen variablen Spaltlastrahmen und die weltbekannten XYZ-Sondenstufen von TS Manufacturing für verbesserte Sondengenauigkeit sowie fortschrittliche Sicht- und automatisierte Ausrichtsysteme. Das einzigartige Design des Probers macht es zu einer großartigen Lösung für Technologieknoten, die höchste Genauigkeit und Zuverlässigkeit erfordern. Die variable Spaltrahmenkonstruktion des Probers ermöglicht eine einfache Einrichtung und Bedienung sowie die schnelle, genaue Einstellung der Steigung und Höhe von Sondenstiften. Die ultrarauscharmen XYZ-Sondenstufen verfügen über eine Submikron-Auflösungsfähigkeit, die eine sehr hohe Genauigkeit der Sondierung ermöglicht. Auch eine Hochfrequenzsondierung wird unterstützt. Das automatisierte bayessche Shap-Alignment-System liefert präzise Ergebnisse mit minimaler Kalibrierungszeit und ist damit eine ideale Lösung für die Sondierung enger Konstruktionstoleranzen. Es unterstützt die Ausrichtung von Sonden weit über die native Messfähigkeit der Sonde hinaus. Das Vision-System ermöglicht das automatische Einführen von Geräten in den Prober sowie schnelle Kommissionier- und Platziervorgänge. Der 8400 verfügt über eine Reihe von Prozesssteuerungen zur unabhängigen Steuerung von Druck und Strom. Unter Verwendung einer flexiblen Einstellung kann der Prober eine Vielzahl von Sondenkarten und Substraten aufnehmen. Es verfügt außerdem über einen kompakten Sondenbereich mit hoher Dichte zur Prüfung von Geräten mit hoher Stiftanzahl. Zusammenfassend ist APT 8400 ein fortschrittlicher Prober, der die Genauigkeit und Zuverlässigkeit bei der Untersuchung von ASICs mit hoher Stiftanzahl erhöht. Es umfasst einen variablen Spaltlastrahmen, hochgenaue XYZ-Sondenstufen, erweiterte Sicht- und automatisierte Ausrichtungssysteme und eine Reihe von Prozesssteuerungen. In Kombination mit seinem kompakten, dichten Sondenbereich eignet sich der Prober ideal für die Prüfung kleiner oder technisch anspruchsvoller Geräte.