Gebraucht TAKAYA APT 8400CE #293792914 zu verkaufen

Hersteller
TAKAYA
Modell
APT 8400CE
ID: 293792914
Weinlese: 1997
Flying prober 1997 vintage.
TAKAYA APT 8400CE ist ein Präzisionsprober, entwickelt für Halbleiter-Wafer-Tests und Produktionslinien-Management. Dieser Prober ist hoch fortgeschritten und enthält eine Vielzahl von Funktionen, die es zu einem leistungsstarken und vielseitigen Gerät machen. Im Herzen des Probers ist die automatische Proberstation ein sehr wichtiger Bestandteil. Es besteht aus einer automatischen Proberstation, einem Controller und einem Drucker. Die Proberstation enthält einen handgehaltenen Tastkopf, eine Spannklemme und eine Zeigerheizung. Der handgehaltene Tastkopf ist mit der Spannklemme verbunden, die auf den Wafer aufgespannt ist. Die Zeigerheizung hilft, den Wafer vor der Prüfung zu reinigen und vorzubereiten. Der Controller bietet eine benutzerfreundliche Programmierung und Steuerung der Proberstation. Es verfügt über eine grafische Anzeige, auf die über eine benutzerfreundliche Oberfläche zugegriffen werden kann. Mit diesem Controller können Benutzer Testparameter definieren, die Testergebnisse anzeigen und sogar detaillierte Berichte erstellen. Dieser hochgradig anpassbare Controller bietet auch umfangreiche Fehlererkennungsfunktionen. Die Druckerkomponente der Proberstation unterstützt mehrere Standard- und anpassbare Medientypen. Dies ermöglicht die Strichcodierung, den Etikettendruck und die Seriennummerierung. Darüber hinaus hat es die Möglichkeit, direkt aus einer Tabellenkalkulation oder Textdatei zu drucken. Dieser Drucker bietet maximale Flexibilität für Testergebnisse, Berichte und Etiketten. TAKAYA APT-8400 CE ist auf Vielseitigkeit und Zuverlässigkeit in einer Vielzahl von Testbedingungen ausgelegt. Sein Präzisionssondenkopf und sein Richtheizungsdesign ermöglichen eine hohe Genauigkeit bei der Prüfung. Die Steuerungs- und Druckerkomponenten ermöglichen umfassende und detaillierte Testdaten. Damit ist APT 8400CE eine ausgezeichnete Wahl für die Herstellung und Prüfung von Halbleiterscheiben.
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