Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 19S #9221598 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON 19S prober ist ein Halbleiter-Wafer-Prober, der zur Prüfung und Messung des Waferpegels von integrierten Bauelementen auf Halbleiterscheiben verwendet wird. Dieses vielseitige Tool verfügt über einen Farbmonitor mit vier Bildern, der Fehlerinspektionen erleichtert und sicherstellt, dass reichlich Informationen im digitalen Format genau kommuniziert und archiviert werden. Der Prober ist eine hochpräzise Positionierausrüstung, die nach SPC-Vorschriften oder speziellen Anwenderanforderungen konzipiert und konstruiert wurde. Der Touchscreen bietet ein einheitliches und intuitives Betriebssystem mit umfassenden Sondierungs- und Testfunktionen. Es verwendet eine Kombination aus mechanischen, pneumatischen, elektronischen und computergesteuerten Steuerungssystemen für einen zuverlässigen und präzisen Betrieb. Der Prober ist mit einem Laser Interferometer For Motion Control (LIMC) ausgestattet, das die Bewegung des Werkzeugs und der Probenstufe des Probers misst. Die LIMC-Maschine reduziert Antriebsfehler und sorgt für eine reibungslose Bewegung bei Wiederholbarkeit und Genauigkeit deutlich unter dem Mikron. Der Prober umfasst auch eine Vielzahl von Prüfwerkzeugen, darunter Mikroskope, Messsysteme und Sondierungssysteme. Diese Werkzeuge bieten eine komplette Waferabdeckung für Tests, Inspektionen und Fehleranalysen verschiedener integrierter Komponenten und Schaltkreiseigenschaften vor Ort. TEL 19S prober ist für Wafer Level Fine Pitch-Tests konzipiert, mit Unterstützung für Standard- und kundenspezifische Testsysteme. Es kann eine Vielzahl von Testkonfigurationen unterstützen, einschließlich Einzelpad-Tests, Multi-Contact-Teststellen, komplexe Sondenmatrix und mehrstufige Tests. TOKYO ELECTRON 19 S prober ist für den Einsatz in einer Vielzahl von technischen Anwendungen geeignet. Dank seiner vielseitigen Eigenschaften und der umfassenden Unterstützung verschiedener Testsysteme ist es eine gute Wahl für High-End-Halbleiteranwendungen. Dieser Prober liefert zuverlässige Testergebnisse, überlegene Leistung und Flexibilität in der Testumgebung. Es ist ein ausgezeichnetes Werkzeug, um hohe Erträge und Produktqualität in der Hochvolumen-Halbleiterproduktion zu gewährleisten.