Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 19S #9281922 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON 19S
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
19S
ID: 9281922
Prober X-Y Stage Stroke: 184mm x 382mm Speed: 125mm/sec Resolution: 0.25µm Z Stage Stroke: Max 15mm(50µm probing) Speed: 62m/sec (up-down) Resolution: 5.0µm Angle of rotation: Max ±10 Control resolution: 0.52µm (0.000477) Driving method: Stepping motor system utility Air: 4.0kg/cm² Min: 5l/min Max: 30l Vacuum: 400~700mm/hg Ambient conditions: Temperature: 25°C ±3°C Humidity: 65% Wafer size: 3"-6" diameter Chip size: 250 - 99999µm Wafer thickness: 300~1000µm Direction of probing:X Axis Overall accuracy:15µm Max/6" Power: 220 VAC(+20% to 5%) 1.5kVA.
TEL/TOKYO ELECTRON 19S ist ein Prober zur Charakterisierung und Prüfung von nanoskaligen Bauelementen wie Halbleiterintegrierten Schaltungen (ICs) und Equipment-on-Chips (SoCs). Dieser Prober verfügt über ein Bildaufnahmesystem zur hochauflösenden Bildgebung von Mikro- und Nanoskala-Geräten zur Fehleranalyse, Reverse Engineering, Ertragsverbesserung, Zuverlässigkeitsanalyse und anderen Anwendungen, die eine detaillierte visuelle Prüfung von Geräten erfordern. TEL 19S umfasst fortschrittliche elektrische Sondierungssysteme mit einem Präzisionsvektor-Netzwerkanalysator (VNA) und einer Reihe programmierbarer Testsockel, um eine elektrische Charakterisierung über eine Vielzahl von Gerätetypen und -größen zu ermöglichen. Der Prober beinhaltet zusätzlich optoelektronische Prüfsysteme zur Hochfrequenz- (RF) -Prüfung, optischen Gerätekennzeichnung und Schaltungstaktanalyse. TOKYO ELECTRON 19 S unterstützt bis zu 8 Testpositionierer, die mehrere gleichzeitige Düsensondierungen ermöglichen. Die Bildaufnahmeeinheit des Probers bietet auch eine Vielzahl von erweiterten Bildgebungsfunktionen wie automatisierte 2D- und 3D-Messung, Zoom/Pan-First-Fail-Analyse, Region-of-Interest (ROI) -Bildgebung, Flächenabtastung und -nähte, Filmdickenmessung und Röntvergleich. Durch die Kombination von optischen und elektrischen Prüffähigkeiten kann 19S die Leistung von Testgeräten quantitativ analysieren und zuverlässige Daten sowie eine detaillierte visuelle Darstellung ihres Zustands und ihrer Konstruktion liefern. TOKYO ELECTRON 19S wurde entwickelt, um in einem weiten Temperaturbereich, einschließlich extrem niedriger Temperaturen, und in einer Vielzahl von Umgebungsbedingungen zu arbeiten. Seine moderne Temperaturmessmaschine ermöglicht die gleichzeitige Überwachung von bis zu sechs Temperaturzonen und sorgt für genaue und wiederholbare Temperaturmessungen über alle Testsysteme hinweg. Darüber hinaus ist der Prober auch für die einfache Einrichtung und Programmentwicklung konzipiert, so dass Kunden mit minimalem Aufwand schnell Testprogramme erstellen und bereitstellen können. Insgesamt ist TEL/TOKYO ELECTRON 19 S ein hochentwickelter Prober, der in der Lage ist, umfassende elektrische und optoelektronische Tests auf einer breiten Palette von Geräten anzubieten. Durch die Integration einer Reihe von Präzisionssensoren, Vektornetzwerkanalysen und bildgebenden Systemen in einem einzigen Paket bietet 19 S ein beispielloses Maß an Genauigkeit und Zuverlässigkeit für die Charakterisierung und Prüfung von nanoskaligen Geräten.
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