Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 20S #9270099 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON 20S ist ein vielseitiger und leistungsstarker Prober, der genaue Ergebnisse in verschiedenen Test- und Sondierungsanwendungen liefert. Es ist eine tragbare und kompakte Sondenstation, die für die Aufnahme mehrerer Substrate im Bereich von 200 bis 300 mm ausgelegt ist. TEL 20S prober bietet eine zweiachsige Übersetzungsstufe mit motorisierten Stufen für präzise und genaue Ausrichtung. Der Prober untersucht und richtet das Substrat aus und programmiert dann den erforderlichen Scanpfad. Der Scan kann einfach in zwei Dimensionen (X und Y) durchgeführt werden. Die zweiachsige Stufe verfügt über eine selbstzentrierende Fähigkeit für einfache Sondierung und Genauigkeit. Der Prober ist in der Lage, Wafer-Tests bei verschiedenen konfigurierbaren Optiken durchzuführen, einschließlich Reflektometrie, Dunkelfeld, Hellfeld und differentielle Bildgebung. Zusätzlich ist der Prober mit optischen Ausrichtungswerkzeugen ausgestattet, um die Bilderfassung während des Wafertests zu optimieren. Mit einem IVR-Gerät (Integrated Voice Response) können Benutzer über eine Touchscreen-Schnittstelle mit dem System kommunizieren. Die IVR-Einheit ermöglicht einen schnellen und einfachen Zugriff auf die Funktionen der Maschine sowie Sprachrückmeldungen beim Betrieb des Probers. TOKYO ELECTRON 20S prober enthält auch ein umfassendes Spektrum von Sonden, darunter eine Leitfähigkeitssonde, eine E-Strahlbox, einen optischen Detektor und ein Mikroskop sowie ein Rastertunnelmikroskop (STM). Dies ermöglicht eine breite Palette von Anwendungen wie Oberflächeninspektion, Leitfähigkeitsprüfung, E-Strahl-Lithographie und STM-Analyse. Neben den Kernfunktionen verfügt der Prober auch über eine integrierte automatische Tuning-Einrichtung und Bildanalysefunktionen. Dies ermöglicht eine schnelle und effiziente Prüfung von Halbleiterscheiben. Der Prober ist auch mit Geräuschunterdrückung gebaut, um die Auswirkungen von Umgebungsgeräuschen zu minimieren, sowie ein Hot-Chuck-Adapter für einen einfachen Zugang zur Waferoberfläche. Darüber hinaus ist der Prober auch mit zusätzlichen Merkmalen wie einer Viskositätsdickenregelung ausgestattet, die genaue Messungen verschiedener auf dem Prober platzierter Materialien ermöglicht. Es enthält auch ein automatisches Abruftool, mit dem Prüfpunktfehlstellungen schnell erkannt werden können. Prober 20S ist das ideale Werkzeug für Halbleiter-Wafer-Prüfung und Sondierung. Seine Kombination aus Eigenschaften und Genauigkeit macht es zu einem unschätzbaren Werkzeug für jede Anwendung, die Prüfung und Sondierung einer Vielzahl von Substraten erfordert.