Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132504 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR ist ein Prober für spezialisierte Halbleiterprüfung und Geräteauswertung. Dieses Gerät verwendet sowohl Impedanz- als auch Kapazitätsmessungen, um eine Vielzahl von Halbleitermaterialien und -komponenten zu messen und auszuwerten. Sie dient zur Messung der Gerätestruktur, Schnittstelle oder Kontakteigenschaften eines Bauteils. Der Prober kann auch zur Messung der Leistungsfähigkeit von Transistoren, MOSFETs, CMOS und anderen Halbleiterbauelementen verwendet werden. TEL 20SR prober verwendet ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), um ein 3-dimensionales Bild der Geräteoberfläche zu erzeugen. Es verwendet auch anspruchsvolle Software, um das resultierende Bild zu analysieren. Das System kann Oberflächenunregelmäßigkeiten wie Beulen, Hohlräume und Risse erkennen und messen sowie die Verteilung von Eigenschaften wie Korngröße und Kornorientierung messen. TOKYO ELECTRON 20 SR kann kleine Partikel, Verunreinigungen, metallurgische Strukturen und kristalline Defekte erkennen und bewerten. Das Gerät ist mit modernsten messtechnischen Merkmalen ausgestattet, einschließlich Laseroberflächenmesstechnik. Dies ermöglicht genaue und präzise Messungen der Gerätestruktur, Oberfläche oder Kontakteigenschaften. Die Maschine verfügt außerdem über ein automatisiertes Messtechnik-Werkzeug zur Auswertung einer Reihe von Geräten. Dadurch ist es einfacher und effizienter, die physikalischen Eigenschaften des Gerätes zu bewerten, ohne manuell Messungen einrichten zu müssen. Für Messungen elektrischer Eigenschaften verfügt TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR über einen Impedanzparameter-Analysator. Sie ist in der Lage, die Impedanz der Vorrichtung bei unterschiedlichen Frequenzen zu analysieren. Es kann auch die Kapazität einer Vorrichtung oder einer Isolationsschicht mit einer Genauigkeit von weniger als 1 Picofarad messen. Diese Anlage verfügt über einen hochempfindlichen Spannungsmesser mit einer Reichweite von bis zu 4,5 Volt. TOKYO ELECTRON 20SR kann bei Temperaturen bis 300 ° C arbeiten. Sein Probentemperaturregler kann bis zu 500 ° C eingestellt werden, was Hochtemperaturmessungen und Tests ermöglicht. Das Modell bietet auch eine Vielzahl von Automatisierungsfunktionen, wie z. B. einen Scan-Listeneditor, mit dem wiederholbare Testsequenzen erstellt und gespeichert werden können. Zusammenfassend ist TEL 20 SR ein vielseitiger und präziser Prober für spezialisierte Halbleiterprüfung und Geräteauswertung. Es verwendet fortschrittliche hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie und ausgefeilte Software, um das resultierende Bild zu analysieren. Es verfügt über eine Vielzahl von messtechnischen Eigenschaften, einschließlich Laseroberflächenmesstechnik, zur Messung der Gerätestruktur, Oberfläche oder Kontakteigenschaften. Es verfügt außerdem über einen Impedanzparameter-Analysator zur Prüfung elektrischer Eigenschaften sowie automatisierte Funktionen zur effizienten Geräteprüfung und -auswertung.