Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132519 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR prober ist ein hochmoderner, hochpräziser Wafer-Prober für Wafer-Level-Tests von Halbleitern. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Wafersubstraten zu handhaben, von Dünnschicht-kristallinen und kommerziellen Silizium-Wafer-Größen bis 200mm. TEL 20SR prober ist mit einem sehr zuverlässigen Design und einer virtuellen Bibliothek von Wafer-Sondierungsprogrammen gebaut. Es bietet ein hohes Maß an Flexibilität und ist in der Lage, verschiedene Teststandorte zu inspizieren, einschließlich integrierter Nanostrukturen und Mikrostrukturen bis zu 5µm mit seiner fortschrittlichen Nanometrologie-Funktionalität. TOKYO ELECTRON 20 SR prober zeichnet sich durch ein robustes Design mit hoher Präzision, hoher Stabilität und minimaler thermischer Drift aus. Es ist in der Lage, außergewöhnliche Ebenheit zu erreichen und ist darauf ausgelegt, zuverlässige Testergebnisse innerhalb < 10us Absetzzeit zu liefern. Das Gerät kann bis zu 14 Probenaufnahmen aufnehmen, und sein integriertes Kamerasystem ermöglicht es Benutzern, jede Probe während der Prüfung zu überwachen. Es verfügt auch über eine intuitive Windows-basierte grafische Benutzeroberfläche und automatisierte Diagnose für schnelle und einfache Fehlerbehebung. TEL 20 SR prober nutzt zwei verschiedene Arten von Optik. Bei der ersten handelt es sich um fokussierte Infrarot-Konfokalmessungen von Nanostrukturen und integrierten Strukturen, bei der zweiten um ein optisches Topview-Mikroskop zur visuellen Inspektion. Die Kombination dieser Technologien ermöglicht es dem Prober, Größen, Formen und Orte von Schaltungselementen genau zu messen und Leerstände, Schatten und Kippen von Elementen zu erkennen. Der Prober hat eine optische Auflösung von bis zu 8µm, und seine integrierte Schaltung minimiert das Übersprechen zwischen Teststellen. 20 SR Prober ist in der Lage, hochgenaue X-, Y- und Z-Bewegungen mit einer Positioniergenauigkeit von 0,01 µm zu erzeugen. Seine fortschrittliche Bildgebungseinheit integriert eine hochauflösende CCD-Kamera und eine binokulare Mikroskopmaschine, die eine präzise Positionierung von Sonden für optimale Messwerte ermöglicht. Darüber hinaus nutzt der Prober eine hohe Genauigkeits- und Höhenmessung zur Lokalisierung und Sondierung von Hohlräumen innerhalb des Integrationssubstrats. Dadurch ist sichergestellt, dass alle Testergebnisse präzise und zuverlässig sind. Insgesamt ist 20SR Prober ein fortschrittliches, zuverlässiges und hochfähiges Wafer-Testwerkzeug. Es bietet eine vielseitige, flexible Plattform für Halbleiterherstellungsmessungen und seine Fähigkeit, mehrere Proben mit gleichzeitiger Qualitätssicherung zu verarbeiten, stellt sicher, dass höchste Prüfgenauigkeit und Präzision erreichbar sind.