Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132520 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON 20SR
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
20SR
ID: 9132520
Weinlese: 1990
Prober, 1990 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON 20SR ist ein fortschrittlicher elektrischer Prober, der hauptsächlich für die Prüfung von integrierten Halbleiterschaltungen (ICs) entwickelt wurde. Es bietet technische Lösungen für fortgeschrittene Sondierungs- und Messlösungen, die Geräteentwicklung und Fehleranalyse unterstützen. TEL 20SR bietet eine hohe Genauigkeit und einen hohen Durchsatz auf kleiner Fläche im Vergleich zu anderen Probern. Der Prober ist mit einzigartigen Optionen und Zubehör ausgestattet, die seine Vielseitigkeit erhöhen. TOKYO ELECTRON 20 SR kann für Wafer- und Packungssonden-Anwendungen verwendet werden und verfügt über eine automatisierte Mikroskopausrüstung für 2D-Musterung. Es ist mit einer dreiachsigen Vakuumfutterstufe ausgestattet, die einen sicheren Betrieb ermöglicht. Darüber hinaus ist der Prober in der Lage, eine einheitliche Temperatur zu überwachen und aufrechtzuerhalten, die von einem fortschrittlichen TEL-Prober-Kühlsystem bereitgestellt wird, wodurch es für lange Profilierungsläufe geeignet ist. Der Prober bietet eine Laststationseinstelleinheit mit einer genauen, wiederholbaren und schnellen Ladelösung. Diese Funktion ermöglicht ein schnelles Umschalten von einem Gerät zum anderen, während sichergestellt ist, dass die Positioniergenauigkeit erhalten bleibt. 20 SR kommt mit anspruchsvoller Software einschließlich Unterstützung für IEEE 1149.1 und I/O-Pin-Messung. Es unterstützt auch eine Skriptsprache zur Automatisierung von Testverfahren und ist mit den neuesten Sprachen und Testbibliotheken kompatibel. TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR unterstützt Niederspannungs-, Niederstrom- und Altgeräte mit proprietären High-Si-berührungslosen Testmontagen. Darüber hinaus verfügt der Prober über eine XYR/High-Si-Maschine zur Messung von I/O-Pins und ein HF-Erweiterungswerkzeug für HF-kompatible Geräte. Der Prober enthält ein Modul für den IEEE 1149.2 Scan Chain Testmodus, das verwendet wird, um Scan-Muster zu erzeugen und Messergebnisse zu liefern. 20SR ist in der Lage, verschiedene Arten von Geräten zu testen, die von Standard-CMOS-Technologie, Bipolar-Technologie, ASIC 's, Mixed Signal, Memory Devices und Asset Level Interconnects reichen. Der Prober verfügt über ein fortschrittliches modulares digitales I/O-Modell, das eine flexible Testautomatisierung für digitalisierte Geräte bietet. Zum Abschluss ist TOKYO ELECTRON 20SR prober ein fortschrittliches und leistungsstarkes Werkzeug zur Sondierung, Prüfung und Messung integrierter Halbleiterschaltungen. Es bietet eine Vielzahl von Optionen und Zubehör und kann eine breite Palette von Geräten unterstützen. Seine ausgeklügelte Software und dedizierte Erweiterungssysteme erweitern seine Fähigkeiten weiter und machen es zu einem zuverlässigen Werkzeug zum Testen und Analysieren von Halbleiterbauelementen.
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