Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132691 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR ist ein fortschrittlicher Prober für die Waferinspektion mit extrem hoher Genauigkeit und Geschwindigkeit. TEL 20SR wird zur Untersuchung von Waferkanten, Schnäbeln und zur Inspektion und Messung der Qualität der Waferoberfläche verwendet. Es bietet auch automatische Waferanalyse sowohl in grafischen als auch in tabellarischen Formaten. TOKYO ELECTRON 20 SR ist mit einem statischen Messgerät ausgestattet, das die kleinsten Unterschiede auf Waferoberflächen messen kann. Dieses System besteht aus zwei Teilen, dem Strobe Sensor, der selbst die schwachen Testschwankungen in den Oberflächenbedingungen erkennt, und dem Sondensensor, der eventuelle Unregelmäßigkeiten erkennt. Die Messergebnisse werden gleichzeitig in einer Datenbank gespeichert, um das Risiko menschlicher Fehler zu minimieren. Die manuelle Beschriftung der Waferoberfläche kann auch von TOKYO ELECTRON 20SR leicht gelesen werden. Die fortschrittliche Autofokus-Einheit passt automatisch den Fokuspunkt des Sensors an, um das manuelle Schreiben klar zu erfassen. Die Ergebnisse werden in einer grafischen Darstellung auf einem großen LCD-Bildschirm deutlich dargestellt. Darüber hinaus ist TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR mit einer berührungslosen Genauigkeitsmessmaschine ausgestattet, die in der Lage ist, winzige Abweichungen von der Zieldicke von Wafern zu erfassen. Dieses Werkzeug besteht aus einem Tastkopf, der für flache Wafer und Halbleiterscheiben zur berührungslosen Genauigkeitsmessung anpassbar ist. Der Prober kommt auch mit einer maßgeschneiderten Parametereinstellung für eine schnelle und einfache Datenübertragung auf einen angeschlossenen PC. Diese Funktion ermöglicht den schnellen Datentransfer und erleichtert die Konfiguration der Waferinspektionssoftware. Die drahtlose Verbindung von TEL 20 SR ermöglicht auch die Fernübertragung von Daten aus der Ferne. Um die Datengenauigkeit zu gewährleisten, verfügt 20 SR auch über ein Double-Checker-Asset, das es Anwendern ermöglicht, jede Abweichung der Bewertungsergebnisse zu überprüfen. Dieses Double-Checker-Modell liefert genauere Ergebnisse für die Waferinspektion und Qualitätskontrolle. Insgesamt ist 20SR ein fortschrittlicher Prober, der für die Waferinspektion mit hoher Genauigkeit und Geschwindigkeit entwickelt wurde. Mit seiner Autofokus-Ausrüstung, dem berührungslosen Genauigkeits-Messsystem und der Double-Checker-Einheit können Benutzer die Qualität der Wafer einfach überprüfen und messen und Daten mit ihren angepassten Parametereinstellungen schnell übertragen.