Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132694 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON 20SR
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
20SR
ID: 9132694
Probers, 1992 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON 20SR ist eine hochentwickelte Prober-Ausrüstung für Wafer-Tests. Es ist für erweiterte Wafer-Inspektion und Sondierung mit größerer Genauigkeit als andere Prober-Systeme konzipiert. TEL 20SR ist in der Lage, klare und detaillierte Daten für die Analyse und Bewertung von Waferqualität und Leistung zur Verfügung zu stellen. Dieses System verfügt über ein fortschrittliches Wafer-Handling-Design, das eine einfache Waferbewegung und Andocken ermöglicht, um die Ausrichtung und Genauigkeit der Prozesse zu gewährleisten. TOKYO ELECTRON 20 SR verfügt über zwei externe Sondenarme, die in der Lage sind, eine Vielzahl von Bereichen von feinen Pitch-Pads bis zu hohen Seitenverhältnissen über Löcher zu sondieren. Es ist auch mit einer erweiterten optischen Einheit und einem Mehrkopf-CCD-Sensor für eine bessere Bildauflösung und Genauigkeit in der Datenerfassung ausgestattet. Die fortschrittliche Überwachungsmaschine von TOKYO ELECTRON 20SR wurde entwickelt, um eine genaue und konstante Umgebung für Wafertests bereitzustellen. Mit seinem fortschrittlichen Überwachungstool kann TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR Variationen der Umgebungsbedingungen erkennen und entsprechend anpassen. Darüber hinaus ist dieses Prober-Asset einfach einzurichten und zu bedienen. Es kann mit jeder Art von Prüf- und Messgeräten, einschließlich Halbleitermaschinen, integriert und über eine grafische Benutzeroberfläche fernbedient werden. Neben den fortschrittlichen Funktionen ist TEL 20 SR zuverlässig und präzise gebaut. Sein fortschrittliches Design eliminiert die Notwendigkeit einer häufigen Kalibrierung und seine langlebige Konstruktion stellt sicher, dass er lange Betriebsstunden problemlos bewältigen kann. Darüber hinaus soll es Ausfallzeiten reduzieren, da Bediener Daten schnell einrichten, testen und analysieren können. Insgesamt ist 20SR ein hochentwickeltes Prober-Modell, das sich ideal für Wafer-Tests und Inspektionen eignet. Es wurde entwickelt, um präzise und detaillierte Daten von Inspektions- und Sondierungswafern bereitzustellen, alle mit minimaler Rüstzeit. Darüber hinaus sorgt seine robuste und langlebige Konstruktion dafür, dass er lange Betriebsstunden effektiv bewältigen kann, was zu einer zuverlässigen Ausrüstung mit minimalen Ausfallzeiten führt.
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