Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON 78S #9375762 zu verkaufen

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
78S
ID: 9375762
Weinlese: 1994
Prober 1994 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON 78S ist ein Halbleiterprober, der zur Prüfung und Charakterisierung der elektrischen, optischen und thermischen Leistung von Halbleiterwaferkomponenten entwickelt wurde. Der Prober verfügt über hochmoderne Spezifikationen, die eine präzise und genaue Überwachung der Leistungsparameter eines Wafers ermöglichen. Das leistungsstarke TEL 78S ist mit einer 4-Achsen-Bewegungssteuerung ausgestattet, die eine präzise Sondenplatzierung ermöglicht. Es ist auch mit einem 16-Bit-Temperaturregler für Temperaturstabilität und Präzision, einem Dehnungsmeßgerät für feine Dehnungsmessungen und einem optischen Kopf für optische Charakterisierung ausgestattet. Der Prober misst eine Vielzahl von elektrischen Parametern, einschließlich Strom, Spannung, Kapazität und Widerstand. Dies macht es nützlich für die Entwicklung von fortschrittlichen elektronischen Produkten. Seine optischen Charakterisierungsfähigkeiten reichen von der Analyse der spektralen Eigenschaften und elektrisch-optischen Komponenten wie PN-Übergänge, LEDs und OLEDs. TOKYO ELECTRON 78 S ist in der Lage, Wafer-Level-Tests. Dies bedeutet, dass die Sonde gleichzeitig mehrere Halbleiterbauelemente auf einem Wafer testen kann. Es verfügt auch über ein integriertes Wafer-Handling-System, das das automatische Be- und Entladen und Ausrichten des Wafers ermöglicht, alles ohne jeglichen Eingriff des Bedieners. Der Prober verfügt auch über eine integrierte Beispieldatenbank, die eine Echtzeitanalyse und einen Datenvergleich ermöglicht. Das bedeutet, dass Testergebnisse schnell mit einer zuvor gespeicherten Probe verglichen werden können. Außerdem ist 78 S in der Lage, Daten direkt in eine eigene Datenbank zu schreiben. Dies ermöglicht komplexe Untersuchungen der getesteten Parameter mit Ergebnissen in Graphen- und Diagrammformaten. Insgesamt ist TOKYO ELECTRON 78S ein unglaublich leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug zur Überwachung und Charakterisierung der Leistung von Halbleiterwaferkomponenten. Mit seinen hochmodernen Messungen und Funktionen ist es ein ausgezeichneter Prober für Ingenieure, die fortschrittliche elektronische Produkte entwickeln.
Es liegen noch keine Bewertungen vor