Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Cellesta-I #9261580 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON Cellesta-I ist ein Prober, ein Maschinentyp, mit dem die Leistung integrierter Schaltungen getestet wird. Es ist auf Geschwindigkeit und Genauigkeit ausgelegt und kann zum Testen von Geräten mit unterschiedlicher Komplexität verwendet werden. Der Prober verfügt über eine kostengünstige Scan-EM-Sonde für Strommessungen sowie eine hochgenaue 4-Punkt-Sonde, die kleine Signale messen kann. Der Prober verfügt außerdem über einen Hochgeschwindigkeits-elektromechanischen Arm mit hoher Kapazität für die Prüfung mit geringem Kontaktwiderstand. TEL Cellesta-I ist für hohe Produktivität und genaue Testfunktionen von Miniatur-integrierten Schaltungen (MICS) und IC-Baugruppen konzipiert. Der Prober kann eine breite Palette von MICS testen, einschließlich digitaler, analoger, HF, optischer und HVIC-Designs. Der Prober wird verwendet, um verschiedene Tests durchzuführen, einschließlich Strommessungen, Pulsformung, Last/Pull-down-Tests, Timing-Messungen und mehr. Der prober hat ein, Hochleistungslaufwerksystem der hohen Kapazität für schnelle genaue und Schautestparameter. Es hat auch eine spezielle Vier-Punkt-Sonde, mit der Sie niederohmige Messungen an einer Vielzahl von Kontakten durchführen können. Der Prober verfügt zudem über eine erweiterte Benutzeroberfläche, die eine einfache, intuitive Bedienung des Probers ermöglicht. Der Prober kann eingerichtet und betrieben werden, um die Ergebnisse schnell zu testen und zu analysieren, sodass Sie Probleme schnell beheben können. Der Prober verfügt über erweiterte Analysefunktionen mit einer integrierten Datenbank, um alle Testergebnisse zu speichern und eine einfache Zusammenstellung und Zusammenfassung der Daten zu ermöglichen. Der Prober hat auch die Fähigkeit, Berichte automatisch zu generieren, was eine bessere Kontrolle des Testprozesses ermöglicht. Es verwendet auch Softwarepakete, um den Testprozess anzupassen und zu automatisieren, um die Kundenanforderungen zu erfüllen. Der Prober verfügt auch über erweiterte Fehleranalysefunktionen, die feinere Informationen über Fehler wie falsches Auslösen von Tests oder offene oder Kurzschlüsse erzeugen. Sie informiert in Echtzeit über die Leistung der Zielgeräte und die Funktionsweise ihrer Kontakte und Funktionen. Die Fehleranalyse-Funktion ermöglicht auch die Datenerfassung während des Gerätetests und ermöglicht ein besseres Verständnis der Ursache eines Fehlers. TOKYO ELECTRON Cellesta-I prober ist ein effizientes und genaues Testwerkzeug, das Fehler und potenzielle Konstruktionsprobleme in MICS und ICs unterschiedlicher Komplexität schnell identifizieren kann. Mit seinen fortschrittlichen Testfunktionen ist es die ideale Test- oder Einbrennstation für jedes Technologielabor oder jede Montageeinrichtung.