Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON Cellesta-I #9282015 zu verkaufen

ID: 9282015
Prober, 12" Process: CLN 2012 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON Cellesta-I ist ein hochentwickelter Prober zur Prüfung und Inspektion von integrierten Schaltungsbauelementen wie Halbleitern und Flip-Chips. Dieser Prober wird von einem motorisch angetriebenen Aufzug angetrieben, der Chips zum Testen und Scannen zum Futter bewegt. Der Prober verfügt auch über ein automatisiertes zweiachsiges automatisches Futterausrichtungssystem, um eine genaue Ausrichtung der zu testenden Chips zu gewährleisten. Die Steuerung und Bedienung des Probers erfolgt über seine integrierte Steuereinheit. Diese Steuerung behandelt eine Vielzahl von Aspekten der Vorrichtung einschließlich der Spannfutterbewegung, thermische Zustandskontrolle, Wafer-Scan und Prober-Statusüberwachung. Der Prober ist auch in der Lage, Parameter basierend auf den zu testenden integrierten Schaltungen einzustellen. TEL Cellesta-I ist in der Lage, bei einer Vielzahl von Temperaturen zu arbeiten, da seine integrierten Heiz- und Kühlsysteme es ermöglichen, sowohl heiß als auch kalt zu arbeiten. Dadurch eignet sich der Prober für die Prüfung einer Vielzahl von Chipgrößen und -materialien. Der Prober ist auch in der Lage, mehrere Tests oder Scans gleichzeitig durchzuführen, was einen schnellen Betrieb ermöglicht. Darüber hinaus enthält der Prober programmierbare Vorrichtungen, die eine einfache Portabilität und Verwendung in mehreren Testumgebungen ermöglichen. TOKYO ELECTRON Cellesta-I ist ein zuverlässiger und zuverlässiger Prober, der präzise und genaue Testergebnisse für eine Vielzahl von integrierten Schaltungsbauelementen bietet. Es kommt mit einem einfach zu bedienenden Kontrollsystem, das die Untersuchung und Inspektion von Chips einfach und schnell macht. Das Gerät verfügt auch über eine Vielzahl von Funktionen wie thermische Konditionierung, Futterbewegung, Prober-Statusüberwachung und programmierbare Vorrichtungen für zusätzlichen Komfort. Insgesamt ist Cellesta-I ein leistungsfähiger und effizienter Prober, der sicherstellen kann, dass integrierte Schaltungsgeräte mit Präzision und Genauigkeit getestet und überprüft werden.
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