Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON M-80W #293662267 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON M-80W ist ein hochpräziser Prober, der für den Einsatz in Halbleiterwafer-Sondierungsanwendungen entwickelt wurde. TEL M-80W verfügt über einen 300mm Wafer-Scan-Bereich, eine 5-Achsen-Sondierungsstufe, eine Drehscheibenstufe und eine 2-Achsen-Probenstufe. TOKYO ELECTRON M-80W verfügt zudem über ein kompaktes und leichtes Design mit einer kleinen Stellfläche, so dass es in beengte Räume passt. Darüber hinaus verfügt M-80W über ein internes expandierendes Waferfutter, das mit Wafern unterschiedlicher Dicke umgehen kann. TEL/TOKYO ELECTRON M-80W verfügt über eine leistungsstarke Bewegungssteuerung, die Vibrationen minimiert und einen reibungslosen Betrieb gewährleistet. TEL M-80W verfügt zudem über ein Vision-basiertes Inspektionssystem, das Defekte bis zu 10nm erkennen kann. Darüber hinaus kann es Sondenmuster und Scan-Trajektorien anpassen, um den individuellen Anwendungsanforderungen besser gerecht zu werden. TOKYO ELECTRON M-80W verfügt über eine integrierte Computersteuereinheit, die es ermöglicht, fernbedient zu werden, so dass es an Netzwerke und das Internet angeschlossen werden kann. M-80W wurde mit einer Vielzahl von Sonden und Stufen ausgestattet, so dass es eine Vielzahl von Sondierungsaufgaben durchführen kann. TEL/TOKYO ELECTRON M-80W verfügt über eine Multi-Touch-Piezo-Sondiermaschine, die Wafer bis zu einer Größe von 300 mm handhaben kann. Darüber hinaus kann es genaue Wafer-Ebene Scannen und Fehlererkennung durchführen. Es verfügt auch über ein Feinabtastwerkzeug, das ideal für Niederspannungssondierungen geeignet ist. TEL M-80W ist mit einer hohen Genauigkeit ausgelegt. Es hat eine Genauigkeit von 1 µm oder weniger und eine Wiederholbarkeit von 0,001 µm oder weniger. Zusätzlich hat es eine maximale Abtastgeschwindigkeit von 50Hz. Darüber hinaus ist TOKYO ELECTRON M-80W mit Sicherheitsfunktionen ausgestattet, um die Sicherheit der Bediener während des Gebrauchs zu gewährleisten. M-80W ist ideal für Halbleiterwafer-Testanwendungen. Es verfügt über eine breite Palette von Sonden und Stufen, die es ermöglichen, Waferdefekte genau zu erkennen und zu charakterisieren. Darüber hinaus verfügt es über eine integrierte Computersteuerung, die es ermöglicht, fernbedient werden, so dass es eine ideale Wahl für eine Wafer-Labor-Umgebung.