Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12 #293658205 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12
ID: 293658205
Prober.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12 prober ist eine hochpräzise, hohe Durchsatz Sondierung Ausrüstung für die Prüfung und Charakterisierung von integrierten Schaltungen entwickelt. Es wird in Halbleiterherstellungsverfahren zur Inspektion, Prüfung und Charakterisierung von Halbleitermaterialien wie Transistoren, Dioden und ICs eingesetzt. TEL P-12 prober besteht aus einer Hauptsteuereinheit, einer Probenstufe mit Vakuumfutter und einem automatisierten Wafer-Handling-System. Er hat einen hohen Durchsatz von ca. 180 Wafern pro Stunde und einen Messbereich von bis zu 400 µm. Der Prober ist mit einer 6-Achsen-Bewegungsstufe ausgestattet, um kontaktlose und optische Messungen zu unterstützen. Es verfügt auch über ein erweitertes Simulations- und Optimierungs-Toolkit, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Zu seinen weiteren Merkmalen gehören die Vakuum-Wafer-Handhabung, ein Prozesssteuermodul, ein statistisches Datenerfassungsmodul und eine Z-Achsen-Bewegungsrückkopplungseinheit. TOKYO ELECTRON P-12 Prober ist hochgenau und wiederholbar, mit einer hohen Auflösung von weniger als 2µm. Es eignet sich zum Messen mehrerer Parameter, einschließlich Spannung, Strom, Temperatur und Widerstand. Die automatische Wafer-Handhabungseinheit ermöglicht eine großflächige Waferfertigung mit hohem Wirkungsgrad. Der Prober verfügt über eine Sicherheitsmaschine zum Schutz vor möglichen Fehlern und Unfällen. Es ist auch so ausgelegt, dass es mit einem Kältemittelwerkzeug verbunden ist, um die Temperatur der Wafer während der Messung zu reduzieren. Darüber hinaus ist der Prober mit einer Bildanalyse-Software-Suite integriert, um Oberflächenfehler zu erkennen und spezifische Punkte für die weitere Analyse zu lokalisieren. Die Software führt auch eine hochpräzise Platzierung von Sonden auf dem Wafer durch. Insgesamt ist P-12 Prober ein zuverlässiger und effizienter Prober, der hochpräzises Scannen, Testen und Charakterisieren von Halbleitermaterialien bietet. Es eignet sich für Hochdurchsatz- und Großserienproduktionsprozesse und liefert genaue und wiederholbare Ergebnisse.
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