Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12 #9209624 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12 ist ein von TEL (TOKYO ELECTRON) hergestellter Prober. Dies ist ein beliebtes Werkzeug zum Testen von Geräteproben in einem Halbleiterautomatisierungsprozess. TEL P-12 prober ist ein wichtiges Werkzeug, das Qualitätssicherung und Zuverlässigkeitskontrolle von Wafern ermöglicht. Dieser Prober hat eine Tragfähigkeit von 12 Zoll und ist für seine genaue Positionierung über die Waferoberfläche bekannt. Dadurch wird sichergestellt, dass die Testnadeln perfekt auf die Pads auf dem Wafer ausgerichtet sind. Es hilft auch, widerstandsfähiges Kontaktversagen zu minimieren. Der Prober verfügt über einen hochpräzisen Bewegungsmechanismus, der eine Schritt- und Wiederholbewegung zur genauen Sondierung ermöglicht. Die fortschrittliche Diagnose des Probers erhöht die Leistung weiter und reduziert Ausfallzeiten. Dazu gehören Fehlererkennung, Tastspitzenverschleißüberwachung und automatische Kalibrierung von Parametern. TOKYO ELECTRON P-12 prober ist ferner mit einem dynamischen Temperaturregelsystem ausgestattet, das die Temperatur des Probers entsprechend der Größe oder manuellen Eingabe des Wafers schnell einstellt. Die Maschine verfügt über eine Vielzahl von Mess- und Testfunktionen, um präzise und genaue Messungen durchzuführen. Es ist in der Lage, Echtzeitdaten über verschiedene Eingabeformate zu verarbeiten und Ausgabedaten zu steuern. Es verfügt über eine voll programmierbare Software, mit der Benutzer die Einstellungen an ihre eigenen Testanforderungen anpassen und anpassen können. Dieser Prober verfügt auch über eine ergonomische Bedienerschnittstelle. Es ist auf Komfort und effizienten Betrieb für maximalen Durchsatz ausgelegt. Es verfügt über automatisierte Handhabung und visuelle Anzeigen, um eine schnelle Einrichtung und Bedienung zu ermöglichen. P-12 ist ein genauer und langlebiger Prober, perfekt für jeden Halbleiterautomatisierungsprozess. Die fortschrittlichen Funktionen, das ergonomische Design und die Genauigkeit bieten Zuverlässigkeit und Komfort für Benutzer im Testprozess. Es ist ein unschätzbares Werkzeug für Halbleiterqualitätskontrolle und Zuverlässigkeitssicherung.