Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293605513 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Prober zur hochgenauen Prüfung und Analyse von Wafern. Es ist der erste Wafer-Prober, der leistungsstarke Steuerungssoftware und erweiterte Metrologie-Funktionen integriert. Zu den Komponenten gehören: eine 6-Achsen-Präzisionsstufe, eine 5-stufige Neigungsstufe, eine 12-Achsen-Neigungs-/Drehstufe und ein großer unabhängiger Messtisch. TEL P12XL hat einen extrem kompakten Formfaktor, der die Anpassungsfähigkeit an verschiedene Testumgebungen ermöglicht. Es hat auch ein ergonomisches Design mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche. Dies erleichtert eine schnelle und einfache Bedienung und hilft bei der Optimierung der Prüfgenauigkeit. Die Protraktorstufe von TOKYO ELECTRON P 12 XL wurde mit einer integrierten hochauflösenden Führungsausrüstung entwickelt, die eine beispiellose Präzisionssteuerung bietet. Diese Funktion bietet wiederholbare Positioniergenauigkeiten auch nach längerem Betrieb. Es hat auch ein fortschrittliches Werkzeugmontagesystem, das eine einfache Manipulation von großen Wafern und Verpackungstests ermöglicht. TOKYO ELECTRON P-12 XL hat auch eine 12-Achsen-Neigungs-/Drehstufe, die es Anwendern ermöglicht, Proben in beliebiger Richtung und Orientierung zu manipulieren. Dies wird mit der Schwingspulenmotortechnologie erreicht, die eine hohe Positionsgenauigkeit und Auflösung bietet. Die Bühne hat einen ± 20 ° Neigungsbereich und ± 360 ° Drehfähigkeit. P-12XL verfügt über eine 5-stufige Kippstufe mit integrierter Autofokussiereinheit, die schnellere und genauere Messungen ermöglicht. Dies geschieht mit RGB-LED-Lichtquellen und einem hochauflösenden Zeilensensor, um ein klareres Bild zu liefern. TEL P-12XL nutzt zudem modernste Metrologie-Funktionen, die eine automatische Wafer-Überwachung und -Mapping ermöglichen. Insgesamt ist TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL ein leistungsfähiger und effizienter Prober mit einer Vielzahl von Funktionen. Der kompakte Formfaktor und die intuitive grafische Benutzeroberfläche ermöglichen eine einfache Bedienung und sorgen für genaue Testergebnisse. Die integrierte hochauflösende Führungsmaschine und das fortschrittliche Werkzeug für die Werkzeugmontage bieten eine genaue und wiederholbare Probenpositionierung auch über längere Betriebszeiten. Seine erweiterten Bewegungssteuerungsfunktionen gewährleisten einen größeren Bewegungsbereich mit erhöhter Positionsgenauigkeit und Auflösung. Schließlich ermöglichen die integrierten Funktionen für automatische Fokussierung und Messtechnik eine verbesserte Überwachung und Kartierung von Wafern.