Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293679675 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Wafer-Prober, der verwendet wird, um integrierte Schaltungen auf verschiedenen Arten von Substraten von einzelnen Chips bis hin zu größeren Platinen genau zu messen und zu analysieren. Es ist ein voll funktionsfähiger Prozesskontrollprober mit einer großen Auswahl an Hardware- und Softwarekomponenten. Der Prober ist in der Lage, mit einer Vielzahl von Substraten zu arbeiten, von Düsengrößen bis zu Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 12 Zoll. Der Betrieb von TEL P12XL wird durch ein modulares Softwarepaket mit Offline- und Online-Betrieb geregelt. Es kann in eine Computerplattform integriert werden und eignet sich somit für automatisierte Workflows. In Verbindung mit der entsprechenden Elektronik und dem entsprechenden Zubehör ermöglicht TOKYO ELECTRON P 12 XL es Benutzern, Schlüsselleistung, Lufttemperatur und Feuchtigkeit zu manipulieren und zu steuern, um die Workflow-Konsistenz zu erhalten. Neben seinen vielseitigen Fähigkeiten ist TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL auch für seine Genauigkeit bekannt. Der Prober verwendet eine doppelte Kontaktkopfausrichtung mit einem Positionierer und einem stabilen X-Y-Koordinatensystem. Dadurch wird sichergestellt, dass Substrate präzise im Prober platziert, sowie einfach und gleichmäßig gescannt und gemessen werden können. Darüber hinaus wird das Softwarepaket durch eine Reihe von Werkzeugen und Zubehör zur genauen Datenerfassung und -analyse innerhalb der Maschinenkammer ergänzt. TOKYO ELECTRON P-12 XL ist in der Lage, Grenzbereiche von Spannung und Strom zu erfassen und zu modifizieren, um eine zuverlässige Prozesssteuerung zu gewährleisten. Insbesondere das MicroCapability™ System ist für hochauflösende Spurmessungen ausgelegt, während das Edge Research™ System eine umfassende Einzelpunkt-In-situ-Sondenstation bietet, die die Genauigkeit von Präzisions- und Charakterisierungstests gewährleistet. Insgesamt bietet TEL P-12 XL robuste Funktionen und eine beeindruckende Reihe von Funktionen, die es zu einem geeigneten Prober für detaillierte Prozesssteuerung und -analyse in der Halbleiterindustrie machen.