Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293816007 zu verkaufen
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ID: 293816007
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2002
Prober, 8"-12"
Dual load port
CIM: RS232
(2) Front Opening Unified Pods (FOUP)
(2) Pincettes
Low Temperature Interface (LTI) unit
CR385PH High Temperature Thermal Device (HTTD) unit
D250 Chiller
SH Communication error
2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Wafer-Prober-Gerät zur Prüfung und Analyse der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. Dieses Tool überträgt effektiv Produkte von einem Bereich zum anderen, um die Qualitätskontrolle für alle Produkte zu gewährleisten. Durch die Überwachung des Testprozesses in Echtzeit gewährleistet es Genauigkeit und Zuverlässigkeit. TEL P12XL verfügt über ein automatisiertes Testsystem, mit dem eine Vielzahl von Geräten gleichzeitig in einer einzigen Prüfstation getestet werden können. Das Gerät ist mit mehreren Allzweck-Schnittstellenbussen (GPIB) ausgestattet, um die Kommunikation mit mehreren Computern zu ermöglichen, wodurch die Datenerfassung während des Tests effizienter und genauer wird. Der Prober ist in der Lage, eine Vielzahl von Geräten zu testen, von Substraten bis hin zu integrierten Schaltungen. Das Gerät verfügt über eine einstellbare Druck- und Temperatureinstellung der Sonde sowie eine Reihe elektrischer Testmöglichkeiten, einschließlich Widerstands- und Kapazitätsmessung, Strom- und Spannungsmessung, Ein- und Ausschaltsteuerung und Nachführung einzelner Geräte. Darüber hinaus bietet TOKYO ELECTRON P 12 XL auch erweiterte Sensorfunktionen wie photoelektrische Erfassung, Bereichsabtasterfassung und ein Schnellabtastsystem auf Nanometerebene. Dies gewährleistet die genaue Lage jedes Gerätes und ermöglicht die Zerstörung nur defekter Geräte. Der zuverlässige und präzise Prüfprozess von TOKYO ELECTRON P-12 XL führt zur Entwicklung hochwertiger Halbleiterprodukte. Es ist ein wertvolles Werkzeug für die Forschung und Entwicklung neuer Bauelemente sowie für die Qualitätssicherung in der Halbleiterherstellung.
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