Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293816009 zu verkaufen
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ID: 293816009
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2003
Prober, 12"
Dual load port
(2) Front Opening Unified Pods (FOUP)
(2) Pincettes
Low Temperature Interface (LTI) unit
CR385PH High Temperature Thermal Device (HTTD) unit
D250 Chiller
No temperature controller
No 147-con board
No loader upper box
2003 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober ist eine fortschrittliche elektrische Testplattform für integrierte Schaltungen, die genaue und wiederholbare Tests auf Halbleiterwaferebene bietet. Es verfügt über ein fortschrittliches Layout, das in hohem Maße mit den Industriestandard-Spezifikationen von Pin-Halbleiter-Prüfsockeln kompatibel ist. Es wurde entwickelt, um eine breite Palette von elektrischen Prüfanforderungen zu unterstützen. Der Prober verfügt über einen großen Arbeitsbereich, der einen großzügigen Platz für eine breite Palette von Wafergrößen gewährleistet, sowie eine Vielzahl von Experimenten unterstützen. Es verfügt auch über eine breite Palette von Testfunktionen, einschließlich Messungen von Strom-Spannungs-Eigenschaften und Kapazität-Spannungs-Messungen. Weitere Merkmale sind eine hohe Unempfindlichkeit gegen Temperaturschwankungen, hohe Wiederholbarkeit, eine einstellbare Probengröße, überlegene Linearität und eine Fähigkeit, Probengrößen bis zu zehn Mikrometer genau zu messen. TEL P12XL enthält einen integrierten digitalen Signalprozessor (DSP), der eine genaue Frequenzmessung und automatische Skalierung von Daten ermöglicht. Es ist auch mit einem Hochgeschwindigkeitsmotor zur beschleunigten Bewegung des Prüfkopfes ausgestattet und beinhaltet eine eingebaute Sicherheitsverriegelung. Dieser Prober kann auch Eigenschaften von montierten passiven Teilen wie Induktoren, Widerständen und Kondensatoren sowie anderen Kleinsignal-Halbleiterbauelementen messen. TOKYO ELECTRON P 12 XL ermöglicht eine einfache Einrichtung sowie eine einfache Wartung. Es nutzt eine benutzerfreundliche, menügesteuerte Benutzeroberfläche mit robusten Graphing- und Testfunktionen sowie einer Vielzahl von Steuerelementen. Eine Vielzahl von Parametern kann angepasst werden, um die Testergebnisse an die spezifischen Bedürfnisse des Geräteherstellers anzupassen. Darüber hinaus verfügt es über einen eingebauten Testzellenheizer, der Kondensation bei niedrigen Umgebungstemperaturen verhindert. Insgesamt ist TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL prober ein äußerst hilfreiches und vielseitiges Instrument, das eine genaue und wiederholbare Prüfung einer breiten Palette von Halbleitern und integrierten Schaltungen ermöglicht. Seine fortschrittlichen Funktionen gewährleisten eine zuverlässige Testumgebung mit robusten Graphing- und Datenverarbeitungsfunktionen und die Leistung, die elektrischen Eigenschaften einer Vielzahl von Proben schnell und genau zu messen.
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