Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293816011 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Prober für den Einsatz in verschiedenen Halbleitercharakterisierungs- und Messanwendungen. Der Prober verfügt über erweiterte Funktionen wie ultraleichte und hochreaktionsfähige XYZ-Stufen mit integrierter Kreuzkorrrektur und eignet sich somit ideal für hochpräzise Wafer-Sondierungsanwendungen mit hohem Durchsatz. Bordtechnolog wie fortgeschrittene Bildanalyse, Mix-Mode-Sondierung und Rauschmesssysteme bieten überlegene analytische Anwendungen. Der Prober hat eine geringe Stellfläche und ein sauberes Design, so dass er einfach in bestehende Infrastrukturen integriert werden kann. TEL P12XL verfügt über eine temperaturstabile Betriebsumgebung mit einem einstellbaren Temperaturbereich von 4-120 ° C. Eine integrierte Funktion ermöglicht die automatische Anpassung der Temperatur an die Spezifikationen des Benutzers. Der Prober wird mit einer Vielzahl von Sondenkarten, Sonden und Aktoren geliefert, die eine optimierte Abtastung und genaue Datenerfassung ermöglichen. TOKYO ELECTRON P 12 XL bietet mehrere Funktionen für leistungsstarke Ergebnisse. Die ultraleichten und hochansprechenden XYZ-Stufen des Probers können zusammenarbeiten, um komplexe Muster schnell und genau zu verfolgen und zu analysieren. Die integrierte Kreuzkorrektur sorgt dafür, dass der Prober während des kontinuierlichen Schrittes an verschiedenen Stellen genau funktioniert. Dies macht den Prober besonders nützlich für die hochpräzise, hochdurchsatzreiche Wafer-Sondierung. Weitere erweiterte Funktionen auf P 12 XL sind Mischmodus-Sondierung, die gleichzeitige Kontakt- und berührungslose Messungen ermöglicht. Der Prober bietet auch eine Bildanalyse an, die es ermöglicht, subtile Unterschiede in elektrischen Signalen zu messen, die sich aus Geräteeffekten auf Ausfallbedingungen oder Prozessvariationen ergeben. Es bietet auch ein Lärmmesssystem, das verwendet werden kann, um Rauschprobleme zu diagnostizieren und zu beheben. TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL ist eine ideale Proberlösung für eine Vielzahl von Anwendungen, von der elektrischen Prüfung bis zur Fehleranalyse und Prozessüberwachung in der Halbleiterindustrie. Es ist eine ideale Wahl für Anwendungen mit hoher Präzision und hohem Durchsatz.