Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #293828518 zu verkaufen

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XL
ID: 293828518
Wafergröße: 8"-12"
Prober, 8"-12" Type: Fully automatic Applications: Wafer-level parametric, functional, and reliability testing Wafer chuck: Precision vacuum chuck with optional temperature control Chuck temperature range: -60°C to +200°C Motion system: Precision X-Y-Z-θ servo-controlled positioning Positioning accuracy: ±1 µm (X/Y) Z-Axis accuracy: ±0.5 µm Alignment: Automatic wafer mapping with optical pattern recognition Probe interface: Compatible with parametric and functional probe card test heads Control system: Fully automatic operation with integrated wafer mapping and probe alignment Utilities: Clean dry air (0.5-0.7 MPa) and vacuum Power supply: 200-240 VAC, 50/60 Hz, 1.5–2.5 kVA.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL prober ist ein professionelles Testgerät zur Durchführung fortschrittlicher Oberflächenanalysen. es wird hauptsächlich in der Halbleiterherstellung, Materialanalyse, Halbleiterbauelementprüfung und -verpackung eingesetzt. TEL P12XL enthält einen Luftlagerstempel für COT-Pakete, der eine schnelle Erstplatzierung mit einer Genauigkeit von ± 0,25 erreichen kann. Die vertikale Bewegungstechnologie sorgt für eine stabile und genaue Positionierung. Dies ist besonders wichtig für Low-K-dielektrische Analyseprobe, die eine präzise und repetitive Ausrichtung erfordert. TOKYO ELECTRON P 12 XL verfügt außerdem über einen TEL-optimierten Lastrahmen, der eine erstklassige Charakterisierungsfähigkeit für Kraft-Spannungs-Strom (FVC) bietet. Es ermöglicht eine schnelle, präzise und langfristige Zuverlässigkeitsprüfung von Geräten. Das 5-Achsen-System bietet eine höhere Positionierflexibilität und Vibrationsbeständigkeit als herkömmliche 3-Achsen-Prober. Die vielseitige P12XL ist in der Lage, verschiedene Arten von elektrischen Tests durchzuführen. Unter anderen Tests kann es oberseitige Widerstands- und Widerstandstests, Schwebebasiswiderstand, SFF-Tests (Small Form Factor), thermisches Zyklus mit kurzen Intervallen und transiente thermische Tests durchführen. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL kommt auch mit einem optischen Mikroskop, das Nähe und lokalisierte berührungslose Bildgebung (LN2I) erleichtert. Zusätzlich zu seinen erweiterten Testfunktionen bietet P 12 XL signifikante Verbesserungen bei Geschwindigkeit und Genauigkeit. Sein Scanfeld ermöglicht eine Hochgeschwindigkeits-Präzision (< 0,1 um Genauigkeit) der Matrizen. Eine zusätzliche Sicherheitsfunktion ermöglicht es dem Bediener, die Ergebnisse zwischen den Tests zu unterbrechen und zu validieren. Dies ist besonders hilfreich für längere Testzyklen. Das Gesamtdesign von TOKYO ELECTRON P12XL wurde gegenüber früheren Modellen verbessert. Die verbesserten Mechanismen fördern Stabilität und Haltbarkeit auch in vibrationsstarken Umgebungen. Die robuste Konstruktion sorgt für konsistente und zuverlässige Prüfergebnisse. Schließlich ermöglicht die Mikrocontroller-Architektur eine verbesserte Genauigkeit, auch wenn sie auf einer instabilen Bank montiert ist. Abschließend ist TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL ein vielseitiger, leistungsstarker Prober, der eine hohe Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit bietet. Es ist ideal für die fortschrittliche Oberflächenanalyse und liefert dem Bediener robuste, zuverlässige Testergebnisse.
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