Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9131742 zu verkaufen
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ID: 9131742
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2001
Prober, 12”
Gold
Hot
GP-IB Cable
Head plate
Gas-spring on headplate
Standard monitor
WAPP-20K with brush
Card holder
Printer
Manipulator
Wafer table
OCR: KLA P8-Zoom
SACC: 200/300
Air and vacuum: Fitting
Monitor type: Standard
Boards:
147-CON
VIP3A
GP-IB
TVB9003-1316
PST-STD
PST-OPT
Loader driver
SIO
Frequency:
Standard: 50/60 Hz
Metric: 50/60 Hz
Single phase
200 V
2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein vollautomatischer Prober zur effizienten Prüfung von Halbleiterchips und -bauelementen. Es hat die Fähigkeit, sich an die Prüfung einer Vielzahl von Halbleiterbauelementtypen und -größen anzupassen, und wurde entwickelt, um eine breite Palette von Wafergrößen von kleinen Stücken bis hin zu Standard- und Wafern mit großem Durchmesser zu handhaben. Der Prober verfügt über ein Advanced Automated Alignment System (AAS), mit dem das Gerät schnell exakt ausgerichtet und ausgerichtet werden kann. Darüber hinaus verfügt die Vorrichtung über einen Präzisionsausrichtmechanismus, der es ermöglicht, jeden Satz von Sondierungspositionen genau und schneller zu messen und zu kalibrieren. Der Prober verwendet auch fortschrittliche Temperatursensoren und computergesteuerte Elemente, so dass er die Temperatur während der Prüfung genau und konsistent messen und kalibrieren kann. Als solches ist es in der Lage, stabile Testbedingungen zu erreichen und die Dauer von Debug-Zyklen zu verkürzen. TEL P12XL bietet auch eine Multi-Site-Testfunktion. Für jede Positionierstelle stehen vier Sonden zur Verfügung, die in 90-Grad-Abständen angeordnet sind. Dies ermöglicht die gleichzeitige Prüfung von vier Standorten, so dass Operationen überlappen und der Durchsatz erhöht werden kann. Darüber hinaus kann die automatische Kalibrierung des Geräts verwendet werden, um stabile Messungen unabhängig von Temperatur- und Umgebungsunterschieden zu gewährleisten. Der Prober umfasst auch eine automatisierte Kontaktkontrolle, die in der Lage ist, fehlerhafte Kontakte zu erkennen und einen Prozess an den Problemstellen automatisch zu stoppen. Dies gewährleistet eine genaue und effiziente Prüfung von Wafern und Geräten. Ein umfassendes, benutzerfreundliches Softwarepaket ermöglicht es dem Benutzer, seine Testumgebung anzupassen, historische Daten zu speichern und zu überprüfen sowie Testergebnisse zu vergleichen und zu optimieren. Insgesamt bietet TOKYO ELECTRON P 12 XL prober eine zuverlässige, kostengünstige und automatisierte Testlösung für eine Vielzahl von Halbleiterchips und -bauelementen. Es ist in der Lage, Temperaturen und Geräteparameter genau, schnell und konsequent zu messen und zu kalibrieren, bietet eine Testfunktion an mehreren Standorten und umfasst ein automatisiertes Kontaktkontrollsystem für erhöhte Genauigkeit und Durchsatz.
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