Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9131789 zu verkaufen
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ID: 9131789
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2001
Prober, 12"
Gold
Hot
Head plate
Gas-spring on headplate
Standard monitor
WAPP-20K with brush
Card holder
Manipulator
Printer
Wafer table
SACC: 200/300
OCR: KLA P8-Zoom
Air and vacuum: Fitting
Monitor type: Standard
Boards:
147-CON
VIP3A
GP-IB
TVB9003-1316
PST-STD
PST-OPT
Loader driver
SIO
Frequency:
Standard: 50/60 Hz
Metric: 50/60 Hz
Single phase
200 V
2001 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL prober ist eine automatisierte Wafer-Sondierungsmaschine, die für hochgenaue Dickenmessung und dielektrischen Widerstandstest in der IC-Forschung, Produktion und F & amp; E-Tests entwickelt wurde. Es ist eine fortschrittliche, flexible und zuverlässige Ausrüstung mit einer intuitiven und benutzerfreundlichen Oberfläche. Dieses System bietet eine vollautomatische und einfach zu bedienende Plattform für Wafer-Sondierungsanwendungen und umfasst den weltweit kleinsten Luftspalt für die hochpräzise Messung und Analyse. TEL P12XL prober bietet eine vollständig transparente Plattform für schnelle, genaue und wiederholbare Testergebnisse. Dieser Prober kann ICs mit einer Probengröße von bis zu hundert fünfzig Mill messen und analysieren und kann auch acht Zoll (200 mm) und zwölf Zoll (300mm) Wafer handhaben. Es ist mit einer Hochleistungs-Drehprobenstufe ausgestattet, die mit verschiedenen Waferladern integriert werden kann. Diese Probenstufe bietet die Möglichkeit, sich in allen drei Drehachsen zu bewegen und garantiert eine hervorragende Positioniergenauigkeit. TOKYO ELECTRON P 12 XL prober verfügt über drei Sonden, von denen zwei entworfen sind, um dielektrische Eigenschaften zu messen, während die letzte Sonde entworfen ist, um physikalische Eigenschaften wie Dicke zu messen. Die Sonden können in fünf Achsen bewegt werden, was eine Feinabtastung und schnelle Messabtastung ermöglicht. Die logischen Eingänge sowie ein digitaler Spannungsregler und analoger Spannungsregler bieten Flexibilität und exzellente Linearität über einen weiten Spannungsbereich. P-12 XL Prober enthält auch ein erweitertes Werkzeug für schnelle und genaue Dickenabbildung und dielektrische Analyse. Dieses Mapping-Tool verwendet einen erweiterten bildgebenden Algorithmus, der selbst geringste Abweichungen in der Schichtdicke schnell und genau erkennen kann. Darüber hinaus ermöglicht die einzigartige optische Sensoreinheit hochpräzise Korrekturen der Schichtdicken. Das Tool enthält auch einen leistungsstarken automatischen Controller zur Prozessautomatisierung und -optimierung. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL prober ist eine sehr leistungsstarke Maschine für Wafer-Sondierungsanwendungen, die eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit erfordern. Mit zuverlässiger Leistung und bequemem Werkzeugsatz ist dieser Prober gut für den Einsatz in IC-Forschung, Produktion und F & amp; E-Tests geeignet. Dieses Tool bietet ausgezeichnete Kontrolle und Flexibilität und kann dazu beitragen, Testzeit und -kosten zu reduzieren.
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