Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9160174 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Prober zur berührungslosen Messung von Kleinbauelementen wie Halbleiterpaketen, Chips und integrierten Schaltungen. Es ist mit einem manuellen Mikrometerkopf und einer Präzisions-XY-Bewegungsstufe ausgestattet, mit der die Geräte in der extremsten Umgebung genau gemessen werden können. TEL P12XL wird auch mit einem Vakuumfutter geliefert, das eine stabile und zuverlässige Oberfläche bietet, auf der die zu prüfenden Geräte positioniert werden können. TOKYO ELECTRON P 12 XL verfügt über einen großen 4-Zoll-Farbflüssigkristallbildschirm, der zum Einrichten und Überwachen von Sonden verwendet wird. Es ist auch kompatibel mit einer Vielzahl von bildgebenden Systemen für CAD-Messungen, Reverse Engineering und kontaktlose Bildgebung. P-12 XL hat einen Verriegelungsmechanismus zur genauen Winkelorientierung und Ausrichtung der zu messenden Teile. Zusätzlich nutzt P-12XL einen umweltfreundlichen Kondensatorsensor zur Berührungssondenmessung anstelle eines konventionellen widerstandsbasierten Sensors zur Messung der empfindlichsten Teile. TEL P 12 XL verfügt außerdem über ein eingebautes Retikel, mit dem Teile mit hoher Genauigkeit und Wiederholgenauigkeit gemessen werden können. Der Prober ist temperaturgeregelt, so dass er in einem Temperaturbereich von 0 bis 50 ° C arbeiten kann, ohne die Genauigkeit der Messungen zu beeinflussen. TOKYO ELECTRON P12XL kommt auch mit einem robusten Bewegungssteuerungssystem und dedizierter Bewegungssteuerungssoftware, so dass es genau und wiederholt zu bestimmten Positionen bewegen. Um zuverlässige Messungen zu gewährleisten, ist TOKYO ELECTRON P-12 XL mit Qualitätskontrollfunktionen ausgestattet, einschließlich eines umfassenden Datenrückverfolgungssystems. Dadurch kann das Wartungspersonal die Genauigkeit der Geräte sowie die Überprüfung bestimmter Parameter wie Beschleunigung, Geschwindigkeit und Drehmoment überprüfen. Zusammenfassend bietet TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL prober eine zuverlässige und genaue Plattform für die Prüfung von kleinteiligen Halbleiterbauelementen. Es kann mit extremen Umgebungen, engen Toleranzen umgehen und bietet ein wiederholbares Messsystem. Darüber hinaus sorgen die eingebauten Sensoren, das Retikel und die Qualitätskontrolle für zuverlässige Messungen ohne Kompromisse bei der Genauigkeit.