Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9161951 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XL
ID: 9161951
Weinlese: 2002
Prober Loader type: Left Type (Hot / Cold): Hot VIP: No 147CON: Yes (No HDD) MR-MC01: Yes 316: Yes PST-OPT: Yes PST-STD: Yes SIO: Yes GPIB: Yes FDD: Yes (Damaged) Signal tower: Yes Monitor: Yes Display driver: Yes Stage X motor: Yes Driver: Yes Stage Y motor: Yes Driver: Yes Stage Z motor: Yes Stage theta motor: Yes Chuck top: Yes PT Sensor: Yes Chuck vacuum solenoid : Yes Sensor: Yes Chuck camera: Yes Bridge camera: Yes Polish pad: No Head plate inter-lock sensor: Yes Shutter: Yes Indexer Z axis motor: Yes (Separated) Indexer Z-axis belt: Yes (Separated) Cassette unit: Yes Sub-Chuck top: Yes Motor: Yes Up / Down cylinder: Yes Solenoid: Yes Pincette (Upper): Yes Motor: Yes Driver: Yes Pincette (Lower): Yes Motor: Yes Driver: Yes Loader vaccum solenoid: Yes Sensor: Yes Wafer sensor: Yes OCR Unit: No SACC Unit: Yes Control board: Yes Cover inter-lock sensor: Yes Shutter: Yes Probe-card interface: Yes Sensor: Yes Manual switch: Yes Hot chuck controller: Yes Manipulator: No Main power supply: Yes Main air / Vacuum fitting: Yes Main regulator unit: Yes 2002 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL Prober ist ein vollautomatischer Prober für fortgeschrittene Halbleitermesstests. Es ist für die Produktionsprüfung von Wafern der nächsten Generation konzipiert und kann Wafer von kleinen bis großen Größen bis 12 Zoll Durchmesser handhaben. Es ist mit fünf Interferometern ausgestattet, die Waferformmessungen mit außergewöhnlicher Genauigkeit, Wiederholgenauigkeit und Zuverlässigkeit durchführen. Der Prober kann eine Vielzahl von Parametern messen, einschließlich Formgrößen, Oberflächentopographie, Oberflächenebenheit und Oberflächenreflektivität - ohne manuelle Anpassungen vornehmen zu müssen. Dies ermöglicht schnellere und genauere Messungen, die eine effizientere Produktion ermöglichen. Der Prober verfügt über ein Onboard-Diagnosegerät, das die Systemgenauigkeit mit genau definierten Verfahren gewährleistet, die ständig überprüft und gewartet werden. Der Prober wird auch mit einer Hochleistungsrobotersortiereneinheit dass schnell Sortenoblaten und andere Materialien in verschiedene Gruppierungen ausgestattet. Dies trägt dazu bei, Ausfallzeiten zu reduzieren, da die Materialien nicht manuell sortiert werden müssen. Der Prober verfügt auch über eine integrierte ESD-Schutzeinheit, die die Lebensdauer der Maschine schützt und verlängert und gleichzeitig ein hohes Maß an Sicherheit für die Benutzer bietet. Die integrierte Werkzeugprozesssteuerung und -software von Prober bietet eine beispiellose Genauigkeit bei der Steuerung und Messung der thermischen Verarbeitung, der Wafer-Sondierung und der Messung und Analyse von Werkzeugstandorten. Der Werkzeugprozess-Controller reduziert die Rüstzeit und erspart komplexe und kostspielige Kalibrierprozesse. Die umfangreichen Peripheriegeräte und Optionen des Prober bieten eine verbesserte Vielseitigkeit für die Prüfung der Halbleitermesstechnik. Dazu gehören ein vielseitiger Roboter-Wafer-Handler, ein Prägewerkzeug zum Markieren auf den Wafern, ein Laser-Marker zum Markieren von Stellen auf dem Wafer und vieles mehr. Der Prober wurde nach höchsten Qualitätsstandards gefertigt und entspricht vollständig den SEMI, ISO und JEDEC Spezifikationen. Der modulare Aufbau und das Zubehör ermöglichen es, maßgeschneiderte Testlösungen zu erstellen, um den genauen Anforderungen der Kunden gerecht zu werden. Mit seinem flexiblen Design kann es verschiedene Wafer-, Test- und Designprozesse problemlos aufnehmen. Seine hohe Genauigkeit und zuverlässige Leistung machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug auf dem Markt für Halbleitermesstests.
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