Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9161960 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XL
ID: 9161960
Weinlese: 2005
Prober Loader type: Left Type (Hot / Cold): Hot VIP: No 147CON: Yes (No HDD) MR-MC01: Yes 316: Yes PST-OPT: Yes PST-STD: Yes SIO: Yes GPIB: Yes FDD: Yes (Damaged) Signal tower: Yes (Separated) Monitor: Yes (Separated) Display driver: Yes Stage X motor: Yes Driver: Yes Stage Y motor: Yes Driver: Yes Stage Z motor: Yes Stage theta motor: No Chuck top: No PT Sensor: No Chuck vacuum solenoid : Yes Sensor: Yes Chuck camera: Yes (Separated) Bridge camera: Yes Polish pad: Yes Head plate inter-lock sensor: Yes Shutter: Yes Indexer Z axis motor: Yes Indexer Z-axis belt: Yes Cassette unit: Yes Sub-Chuck top: Yes Motor: Yes Up / Down cylinder: Yes Solenoid: Yes Pincette (Upper): Yes Motor: Yes Driver: Yes Pincette (Lower): Yes Motor: Yes Driver: Yes Loader vaccum solenoid: Yes Sensor: Yes Wafer sensor: Yes OCR Unit: No SACC Unit: Yes Control board: Yes Cover inter-lock sensor: Yes Shutter: Yes Probe-card interface: Yes Sensor: Yes Manual switch: Yes Hot chuck controller: Yes Manipulator: Yes Main power supply: Yes Main air / Vacuum fitting: Yes Main regulator unit: Yes 2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Hochleistungsprober, der entwickelt wurde, um die Präzision und Genauigkeit des Gerätetests zu maximieren. Es ist für den Einsatz in beiden Halbleiter-Wafer-Tests und erweiterte Anwendungen wie Wafer-Level Burn-in, HF-Messungen, Vibrationstests, Power-Device-Tests, MEMS-Tests und mehr. Mit einer breiten Palette zuverlässiger und bewährter Komponenten erreicht TEL P12XL Präzision auch bei höchsten Geschwindigkeiten und eignet sich somit gut für großvolumige Aufgaben. Der Prober bietet auch eine Reihe von Schnellwechsel- und benutzerdefinierbaren Optionen, wie Beispielbewegungen, Scan-Muster, Kalibrierungen, Datenhandling und mehr. TOKYO ELECTRON P 12 XL verfügt über eine fortschrittliche Technologie, einschließlich eines Höhensensors zur Minimierung der Wafer-Neigung, einer unabhängigen Aufzugsausrüstung und eines verschleißfreien Kontaktsystems, das hilft, die Kontaktkraft zu minimieren. Der Prober hat auch einen Wulstladerarm, eine mechanische Einheit mit Spaltfutter und Präzisionsausrichtungstechnologien, um einen stabilen Kontakt über lange Probenahmeperioden sicherzustellen. Darüber hinaus kann TEL P 12 XL mit einer Vielzahl von automatisierten Funktionen ausgestattet werden, wie z. B. einer Reinigungskammer, einem Autostart und einer automatischen Kalibrierung. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL ist mit einer Top-Ladekonfiguration mit einer maximalen Wafergröße von bis zu 8 Zoll ausgelegt. Die Wafer können mit einem dedizierten Handler oder manuell geladen werden. Wafer können mit Leichtigkeit be- und entladen werden, und P-12XL können bis zu 8 Wafer pro Last aufnehmen, was den Testdurchsatz und die Geschwindigkeit erhöht. Der Prober verfügt auch über ein fortgeschrittenes Stadium, das einen integrierten 6-Achsen-Bewegungsregler verwendet, um eine exakte Probenplatzierung und -steuerung sicherzustellen. TEL P-12 XL verfügt zudem über ein integriertes Toolkit zur weiteren Anpassung und Automatisierung. Dies umfasst eine Reihe von Sonden und Konfigurationen, einschließlich kontaktloser Testsonden, aktiver und passiver Sonden und Referenzsonden. Benutzer können auch benutzerdefinierte Skripte und Programme erstellen, um bestimmte Tests zu automatisieren, sowie Daten zu teilen und Sondenkonfigurationen zu speichern, um ihre Testeinrichtung zu optimieren und die Rüstzeit zu verkürzen. P 12 XL verfügt auch über eine fortschrittliche Steuerungsmaschine, die sehr intuitiv und benutzerfreundlich gestaltet ist. Die GUI-Schnittstelle bietet einfache, optimierte Steuerungen und Funktionen, sodass Benutzer schnell auf das Befehlsfenster und die Steuerungseinstellungen zugreifen können. Darüber hinaus kann das Tool in das vorhandene Asset jeder Maschine integriert werden, so dass die Steuerung und gemeinsame Nutzung von Daten ohne externe Hardware möglich ist. Insgesamt bietet P12XL prober eine Reihe fortschrittlicher Technologien und Funktionen für höhere Präzision und Genauigkeit sowohl in Halbleiterwafern als auch in fortgeschrittenen Anwendungen. Mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche und automatisierten Funktionen wurde der Prober entwickelt, um Tests zu optimieren und die Rüstzeit zu reduzieren.
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