Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9161960 zu verkaufen
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ID: 9161960
Weinlese: 2005
Prober
Loader type: Left
Type (Hot / Cold): Hot
VIP: No
147CON: Yes (No HDD)
MR-MC01: Yes
316: Yes
PST-OPT: Yes
PST-STD: Yes
SIO: Yes
GPIB: Yes
FDD: Yes (Damaged)
Signal tower: Yes (Separated)
Monitor: Yes (Separated)
Display driver: Yes
Stage X motor: Yes
Driver: Yes
Stage Y motor: Yes
Driver: Yes
Stage Z motor: Yes
Stage theta motor: No
Chuck top: No
PT Sensor: No
Chuck vacuum solenoid : Yes
Sensor: Yes
Chuck camera: Yes (Separated)
Bridge camera: Yes
Polish pad: Yes
Head plate inter-lock sensor: Yes
Shutter: Yes
Indexer Z axis motor: Yes
Indexer Z-axis belt: Yes
Cassette unit: Yes
Sub-Chuck top: Yes
Motor: Yes
Up / Down cylinder: Yes
Solenoid: Yes
Pincette (Upper): Yes
Motor: Yes
Driver: Yes
Pincette (Lower): Yes
Motor: Yes
Driver: Yes
Loader vaccum solenoid: Yes
Sensor: Yes
Wafer sensor: Yes
OCR Unit: No
SACC Unit: Yes
Control board: Yes
Cover inter-lock sensor: Yes
Shutter: Yes
Probe-card interface: Yes
Sensor: Yes
Manual switch: Yes
Hot chuck controller: Yes
Manipulator: Yes
Main power supply: Yes
Main air / Vacuum fitting: Yes
Main regulator unit: Yes
2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Hochleistungsprober, der entwickelt wurde, um die Präzision und Genauigkeit des Gerätetests zu maximieren. Es ist für den Einsatz in beiden Halbleiter-Wafer-Tests und erweiterte Anwendungen wie Wafer-Level Burn-in, HF-Messungen, Vibrationstests, Power-Device-Tests, MEMS-Tests und mehr. Mit einer breiten Palette zuverlässiger und bewährter Komponenten erreicht TEL P12XL Präzision auch bei höchsten Geschwindigkeiten und eignet sich somit gut für großvolumige Aufgaben. Der Prober bietet auch eine Reihe von Schnellwechsel- und benutzerdefinierbaren Optionen, wie Beispielbewegungen, Scan-Muster, Kalibrierungen, Datenhandling und mehr. TOKYO ELECTRON P 12 XL verfügt über eine fortschrittliche Technologie, einschließlich eines Höhensensors zur Minimierung der Wafer-Neigung, einer unabhängigen Aufzugsausrüstung und eines verschleißfreien Kontaktsystems, das hilft, die Kontaktkraft zu minimieren. Der Prober hat auch einen Wulstladerarm, eine mechanische Einheit mit Spaltfutter und Präzisionsausrichtungstechnologien, um einen stabilen Kontakt über lange Probenahmeperioden sicherzustellen. Darüber hinaus kann TEL P 12 XL mit einer Vielzahl von automatisierten Funktionen ausgestattet werden, wie z. B. einer Reinigungskammer, einem Autostart und einer automatischen Kalibrierung. TEL/TOKYO ELECTRON P 12 XL ist mit einer Top-Ladekonfiguration mit einer maximalen Wafergröße von bis zu 8 Zoll ausgelegt. Die Wafer können mit einem dedizierten Handler oder manuell geladen werden. Wafer können mit Leichtigkeit be- und entladen werden, und P-12XL können bis zu 8 Wafer pro Last aufnehmen, was den Testdurchsatz und die Geschwindigkeit erhöht. Der Prober verfügt auch über ein fortgeschrittenes Stadium, das einen integrierten 6-Achsen-Bewegungsregler verwendet, um eine exakte Probenplatzierung und -steuerung sicherzustellen. TEL P-12 XL verfügt zudem über ein integriertes Toolkit zur weiteren Anpassung und Automatisierung. Dies umfasst eine Reihe von Sonden und Konfigurationen, einschließlich kontaktloser Testsonden, aktiver und passiver Sonden und Referenzsonden. Benutzer können auch benutzerdefinierte Skripte und Programme erstellen, um bestimmte Tests zu automatisieren, sowie Daten zu teilen und Sondenkonfigurationen zu speichern, um ihre Testeinrichtung zu optimieren und die Rüstzeit zu verkürzen. P 12 XL verfügt auch über eine fortschrittliche Steuerungsmaschine, die sehr intuitiv und benutzerfreundlich gestaltet ist. Die GUI-Schnittstelle bietet einfache, optimierte Steuerungen und Funktionen, sodass Benutzer schnell auf das Befehlsfenster und die Steuerungseinstellungen zugreifen können. Darüber hinaus kann das Tool in das vorhandene Asset jeder Maschine integriert werden, so dass die Steuerung und gemeinsame Nutzung von Daten ohne externe Hardware möglich ist. Insgesamt bietet P12XL prober eine Reihe fortschrittlicher Technologien und Funktionen für höhere Präzision und Genauigkeit sowohl in Halbleiterwafern als auch in fortgeschrittenen Anwendungen. Mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche und automatisierten Funktionen wurde der Prober entwickelt, um Tests zu optimieren und die Rüstzeit zu reduzieren.
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