Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9279691 zu verkaufen

Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XL
ID: 9279691
Probers Tri-temperature Hot / Cold chuck temp: (30°C to 150°C) Gold (WAT Chuck) Hard Disk Driver (HDD) Floppy Disk Driver (FDD) OCR: INSIGHT 1700 Single cassette Fail mark inspection Auto needle alignment Auto needle height GB-IP Ethernet WAPP Air type Operating system: Rzz00-R015.01-T Configuration disk CPU Board: VIP3 Power supply: 200 V, AC No chiller No APC No SACC No motor No air No cart 2008-2009 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein hochpräziser Prober, der speziell für die Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Es verfügt über eine fortschrittliche automatisierte Messplattform, die präzise und schnelle Tests von Halbleiterscheiben ermöglicht. TEL P12XL prober verfügt über eine Reihe von Funktionen und Funktionen, darunter ein Hochgeschwindigkeits-bahnbrechendes Indexierungssystem und dedizierte Touch-Sense und Tip-Sense-Testsonden zur präzisen Bestimmung von Gerätefehlerpositionen. TOKYO ELECTRON P 12 XL verfügt außerdem über ein hochauflösendes digitales Abbildungssystem zur Erfassung von Werkzeugbildern mit höchster Genauigkeit, das eine detaillierte Einsicht in Halbleiterdefekte ermöglicht. Darüber hinaus minimiert sein Force Balance/Vacuum Grip System Verschmutzungen und sorgt für eine kontrollierte Geräteentnahme von seinem Testboard. Neben der Präzisionssondierung bietet TOKYO ELECTRON P-12XL eine Reihe von Software-Tools wie einen Wafer-Muster-File-Builder und einen Test-Programm-Editor, mit denen Ingenieure Tests schnell und effizient einrichten und Tests ohne umfangreiche Programmierung oder Datenmanipulation durchführen können. TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL bietet auch zahlreiche Fehlererkennungs- und Analysefunktionen, darunter die gleichzeitige Sondierung mehrerer Geräte, die schnelle Fehlererkennung und ein eingebautes Werkzeug zur Charakterisierung der Matrize zur verbesserten Ertragsanalyse. Der Prober unterstützt auch mehrere Wafergrößen und -typen, einschließlich Keramik-, Glas- und Quarzsubstrate. Konstruiert aus korrosionsbeständigem Stahl und Kupfer, ist P-12XL unter Berücksichtigung der Benutzerfreundlichkeit des Kunden konzipiert, mit einfach zu bedienenden Steuerungen und LED-Indikatoren für die Überwachung der Genauigkeit und Leistung. P-12 XL ist für den Einsatz in ultrapräzisen Fehleranalyseanwendungen auf Halbleiterebene konzipiert. Es ist auch in der Lage, Zuverlässigkeit und Gültigkeit zu testen, Geräteintegration und Signalfluss zu analysieren und Sicherheits- und Umweltnormen zu testen. Ideal für fortgeschrittene Forschungs- und Entwicklungslabore bietet TEL P-12 XL außergewöhnliche Leistung, Genauigkeit und Zuverlässigkeit in einem benutzerfreundlichen Paket.
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