Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9298733 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XL
ID: 9298733
Weinlese: 2005
Wafer prober 2005 vintage.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Hochleistungsprober für Wafer-Sondierungsanwendungen in der Halbleiterherstellung. Dieses automatisierte Tool bietet eine breite Palette von Funktionen und Funktionen, einschließlich hochpräziser Messung mit wiederholbarer Genauigkeit, automatisierter Wafer-Sortierung und -Tests mit integrierten Bilderkennungsfunktionen, erweiterter Sondensteuerung mit Windows-kompatibler Software und einem High-Speed-Wafer-Roboterarm. TEL P12XL verwendet Linear Variable Differential Transformer (LVDT), um die vertikale Bewegung der Sondenspitze bei hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu messen - bis zu 1 Million Wiederholzyklen, um konsistente Ergebnisse zu gewährleisten. Dies wird für eine maximale Sondierungskraft von 80 Newton bewertet. Für die Handhabung von Wafern von der Unterseite ist eine optionale invertierte Oberflächenmesseinrichtung verfügbar. TOKYO ELECTRON P 12 XL verfügt über ein automatisiertes Sichtsystem, das integrierte CCD-Kameras zur Erkennung von Chipfehlern verwendet. Die Kameras auf diesem Prober sind in der Lage, Bilder von Chiplinien, Regionen oder Punkten zu erfassen und auf Fehler zu analysieren. Mit dieser Einheit können Geräte auf dem Wafer für übergeordnete Sortierprozesse gefunden werden. TOKYO ELECTRON P-12XL verfügt über fortschrittliche Funktionen zur Manipulation und Steuerung der Sondierung. Die Windows-kompatible Software ermöglicht das Einstellen komplexer Programme für komplexe Probing-Operationen. Zusätzlich kann ein optionaler Wafer-Roboterarm verwendet werden, um die Bewegung von Wafern zu automatisieren und eine schnellere Sortierung und Verarbeitung zu ermöglichen. Abschließend ist TEL/TOKYO ELECTRON P12XL ein fortschrittlicher Wafer-Prober, der für die Halbleiterherstellung entwickelt wurde. Der Einsatz von Präzisionsmessung, automatisierter Sichtmaschine, fortschrittlicher Sondensteuerung und einem optionalen Wafer-Roboterarm ermöglicht automatisierte Test-, Sortier- und Inspektionsprozesse.
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