Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9351337 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL prober ist ein Prober der nächsten Generation, der einen technologischen Durchbruch bei der Wafer-Sondierung darstellt. Es bietet sich schnelllaufend und Hopräzisionsoblatenuntersuchungsfähigkeiten, es ideal sowohl für den Front-End als auch für Zurückende der Produktion machend. Das gut konzipierte Profil von TEL P12XL sorgt für eine effiziente Materialhandhabung und Automatisierung und eignet sich somit gut für verschiedene Sondierungs-, Prüf- und Messanwendungen. TOKYO ELECTRON P 12 XL ist für den Einsatz in der Wafer-Sondierung konzipiert. Es verfügt über eine Zwei-Grad-Freiheitsstufe (2D), die aus einem X-, Y-Achsen-Mechanismus und einem optisch basierten Messsystem besteht. Das weit öffnende Spannfutterdesign ermöglicht es P-12XL, mehr als einen Wafer gleichzeitig zu sondieren, ohne anzuhalten oder zu klemmen. Dies bedeutet, dass es mehrere Operationen gleichzeitig durchführen kann, was den Durchsatz weiter verbessert. Der X-, Y-Achsen-Mechanismus wird von drei unabhängigen digitalen Servomotoren angetrieben, die eine hervorragende Steuerung und Geschwindigkeit bieten. Das hochpräzise optische Messsystem von P-12 XL sorgt auch für genaue Wafer-Sondierungsergebnisse. Mit einer Kombination aus optischen Encodern, CCD-Kameras, Lichtquellen und anderen fortschrittlichen Geräten können Messungen schnell und präzise durchgeführt werden. Die Messungen werden in Echtzeit angezeigt und können automatisch auf die gewünschten Parameter eingestellt werden. Dieses System sorgt für eine möglichst hohe Präzision beim Prober des Wafers. TOKYO ELECTRON P12XL prober ist ein fortschrittlicher und zuverlässiger Prober, der mehrere Arten von Wafer Sondierung und Tests handhaben kann. Seine hochpräzisen optischen Messungen und das weit öffnende Spannfutterdesign machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug für eine effiziente und genaue Wafer-Sondierung. Seine ausgezeichnete Steuerung, Geschwindigkeit und Automatisierung machen es eine gute Wahl für jede Art von Wafer Sondierung oder Testanwendung.