Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL #9389876 zu verkaufen

TEL / TOKYO ELECTRON P-12XL
Hersteller
TEL / TOKYO ELECTRON
Modell
P-12XL
ID: 9389876
Prober.
TEL/TOKYO ELECTRON P-12XL ist ein Prober für den Einsatz in Halbleiterherstellungs- und Inspektionsprozessen. Es wird häufig bei der Herstellung von integrierten Schaltungen, Speicherchips, Solarzellen und anderen Geräten verwendet. TEL P12XL ist mit einer fortschrittlichen und hochempfindlichen Elektronenstrahl (EB) -Säule für überlegene Auflösung ausgestattet. Die Säule ist in der Lage, detaillierte Bilder der Halbleiterscheiben mit einer Auflösung bis zum Nanometerspiegel zu erfassen. Mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten und der hochpräzisen Technologie ist TOKYO ELECTRON P 12 XL in der Lage, extrem genaue Messungen von feinen Strukturen auf einem Halbleiterwafer zu erreichen. TEL/TOKYO ELECTRON P-12 XL verfügt über ein zuverlässiges und genaues Kernsystem für den Proberbetrieb, einschließlich eines integrierten Quarz-Interferometers (QI), Z-Achsen-Wandlers und eines Stufensteuerrechners. Dies gewährleistet eine hochpräzise und schnelle Überwachung und Bewegungssteuerung von Bühne und Sondennadel. Ein High-End-Wafer-Spannfutter ist mit P 12 XL integriert, das mit elektrostatischer Kraft den Wafer sicher an Ort und Stelle hält und zuverlässige Messungen gewährleistet. Zusätzlich ist das System mit einem 8x Dämpfer zur Subtraktion der Hintergrundreflexion von der Oberfläche des Wafers ausgestattet. P12XL System ist auch mit einer Vielzahl von Softwareoptionen ausgestattet, einschließlich eines Large Area Scan (LAS), der die Aufnahme von Bildern auf mehreren Teilen des Wafers gleichzeitig ermöglicht. Darüber hinaus ist es mit einer Cross-Point Scan (CPS) -Software ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, Messpunkte an den Rändern von zwei Punkten auf einem Wafer zu übernehmen. Die Software enthält auch eine Reflectance Reduction Scan (RRS) -Software, die die Reflexion auf helle Bereiche des Wafers reduziert. TEL P 12 XL ist ein wesentliches Werkzeug bei der Herstellung und Inspektion von Halbleiter- und Mikroelektronikbauelementen. Es ist mit fortschrittlichen, hochpräzisen Technologien ausgestattet, die es ermöglichen, feine Strukturen auf dem Wafer mit Nanometergenauigkeit zu erfassen und zu messen. Mit zuverlässigen Kernsystemen und leistungsstarker Software ist TEL P-12 XL ein effektives, effizientes und kostengünstiges Werkzeug zur Gewinnung hochwertigster Halbleiterbauelemente.
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