Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293712729 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm prober ist ein automatisierter Leichtbauprober zur Inspektion, Analyse und Prüfung von Halbleiterbauelementen. Es ist für fortgeschrittene Halbleiterbauelement Sondierung, Charakterisierung und Herstellungsprozesse konzipiert. Dieser Prober wurde entwickelt, um schnellere Gerätefunktionen und einen effizienteren Analyse- und Testprozess zu ermöglichen. TEL P12XLM verfügt über eine Hochgeschwindigkeits-CCD-Kamera mit erweiterten Bildgebungsfunktionen, eine hochpräzise Wafer-Bühne und automatisiertes Wafer-Handling. Es ist mit einem 10-Zonen-Temperaturregelsystem ausgestattet, das in der Lage ist, die Temperatur sowohl des Werkstücks als auch der Umgebung genau zu steuern. Der Prober verfügt über einen Desktop-Controller, der eine einfache Bedienung und Datenverwaltung sowie eine benutzerfreundliche grafische Oberfläche ermöglicht. TOKYO ELECTRON P 12 XLM bietet auch eine automatische Substratkartierung, die es dem Benutzer ermöglicht, die Eigenschaften des Substrats schnell abzubilden. Es ist mit einem automatischen Defect Location System (ADLS) ausgestattet, das in der Lage ist, Fehler im Chip genau zu erkennen und ihren Standort auf dem Substrat anzuzeigen. Darüber hinaus verfügt es über ein Analyse-Softwarepaket (Analysis Software Package, ASP), mit dem der Benutzer die Daten analysieren und überprüfen kann. P-12XLm prober kommt auch mit einer breiten Palette von Zubehör wie automatische Spannvorrichtungen und verschiedene Sonden, die für verschiedene Anwendungen gemacht werden. Dieser Prober ist in der Lage, hochauflösende Ergebnisse zu erzielen, so dass der Benutzer präzise Messungen durchführen und gleichzeitig Genauigkeit und Zuverlässigkeit beibehalten kann. TEL/TOKYO ELECTRON P12XLM prober ist ein extrem vielseitiger Prober, der für eine Vielzahl unterschiedlicher Anwendungen entwickelt wurde und perfekt für die Prüfung und Sondierung von Halbleiterbauelementen geeignet ist. Es ist in der Lage, schnelle, hochpräzise Bedienung und bietet dem Benutzer genaue und zuverlässige Ergebnisse. Es ist eine ideale Wahl für alle Prüf-, Sondierungs- und Charakterisierungsanwendungen von Halbleiterbauelementen.