Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #293752228 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm ist ein fortschrittlicher Prober für hochpräzise elektrische Messung entwickelt. Diese leistungsstarke und vielseitige Ausrüstung ist in der Lage, durch eine Vielzahl von Positionen zu wechseln und eignet sich ideal zum Sondieren und Testen verschiedener elektronischer Komponenten. TEL P12XLM verwendet zwei separate Sonden, den Touch Lap Shear Prober und den berührungslosen Vector Prober. Der Touch Lap Shear Prober ermöglicht die Messung direkt von der Oberfläche des Bauteils und ist mit einer hochpräzisen Kontaktspitze für Genauigkeit konstruiert. Der berührungslose Vektorprober ermöglicht die Prüfung winziger Bauteile ohne Beschädigung oder Verschleiß. Darüber hinaus bietet das System eine Reihe von Testfrequenzoptionen, die es ermöglichen, eine Vielzahl von Parametern wie Kapazität, Widerstand, Induktivität, Frequenz, Rauschen, IF/NF und Zeitbereichsspektren zu messen. TOKYO ELECTRON P 12 XLM verwendet einen großen Datenverarbeitungscomputer, ein hochauflösendes LCD-Touchpanel und einen USB-Anschluss, um seine Prüfgenauigkeit zu verbessern. Mit dem großen Datenverarbeitungscomputer ist das Gerät in der Lage, Wellenformen bei Auflösungen von bis zu 25kHz zu erfassen und kann detaillierte Echtzeit-Wellenform-Anzeigen bereitstellen. Dieser Computer ist mit einer Wafer-Registrierungsdatenbank konfiguriert, um eine genaue Datenerfassung und -übertragung sicherzustellen. TOKYO ELECTRON P-12XLm ist mit fortschrittlicher Bewegungssteuerung ausgestattet, darunter zwei präzise lineare Aktuatoren und zwei dynamische Abtaststufen. Die Linearantriebe sind in der Lage, eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit von Messpositionen und -winkeln zu gewährleisten, während die dynamischen Abtaststufen eine automatisierte Abtastung für ein größeres Sichtfeld ermöglichen. Darüber hinaus ist das Werkzeug entworfen, um Vibrationen und Luftwiderstand zu minimieren, so dass höhere Genauigkeit und Wiederholbarkeit. P-12XLm ist ein idealer Prober für die Prüfung und Messung einer Reihe von elektronischen Komponenten, von mikroskopischen Teilen bis hin zu großen Wafer-Arrays, und kann eine breite Palette von Messungen mit hoher Genauigkeit bieten. Mit seinem optimierten Design ist das Asset in der Lage, leicht von einer Position zur nächsten zu wechseln, was eine einfache Automatisierung des Testprozesses ermöglicht.