Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9161697 zu verkaufen

TEL P-12XL ist ein Prober für die Genauigkeitsanalyse des Waferstandes. Es ist ein Multiparameter-System, das sowohl elektrische als auch physikalische Eigenschaften von Siliziumscheiben oder Halbleiterbauelementen messen kann. Das P-12XL bietet modernste Wafer-Sondierungsfunktionen und ist somit ideal für Produktions- und Forschungs- und Entwicklungsanwendungen geeignet. Sein innovatives Design verfügt über einen Hochgeschwindigkeits-Scan-Mechanismus, ein patentiertes optisches Netzteil auf Waferebene, optimierte Stromkupplungen und ein hochgenaues Bewegungssteuerungssystem. Das P-12XL ist mit einer Reihe von Ein- und Ausgängen ausgestattet, um eine umfassende Palette von Funktionen bereitzustellen, darunter automatisierte Waferausrichtung, mehrere In-situ-elektrische Analysekanäle und integrierte Computersteuerung. Die automatische Ausrichtung des Wafers gewährleistet einen genauen und gleichmäßigen Waferkontakt, während mehrere elektrische Analysekanäle in situ mehrere Messungen mit einer einzigen Sonde ermöglichen. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Computersteuerung die Verwaltung aller Datenanalyseaufgaben aus programmierbarer Entfernung. Die P-12XL ist auch in der Lage, umfassende Umweltkontrolle, Unterstützung Betriebe unter Hochdruck- und/oder Hochtemperaturbedingungen. Es ist mit bordeigenen Sauerstoff-, Temperatur- und/oder Feuchtigkeitssensoren ausgestattet, die eine detaillierte Analyse der Geräteeigenschaften in der sich ändernden Umgebung ermöglichen. Dadurch wird sichergestellt, dass Messungen unter Verwendung der P-12XL unabhängig von der Testumgebung präzise und zuverlässig bleiben. Das P-12XL kann so konfiguriert werden, dass es nicht nur Einzelwafer-Wertmessungen liefert, sondern auch präzise Prozessparameter wie Stanzaufwand, I-V-Kurvenmessungen, Schleifenverstärkung oder Mikrowelleneigenschaften. Darüber hinaus ist der P-12XL durch seine modulare Bauweise in der Lage, ein breites Anwendungsspektrum zu unterstützen. Durch die Integration anderer Instrumente in das modulare System kann es für komplexe Wafer-Level-Analyseprozesse eingesetzt werden. Darüber hinaus ist die P-12XL bei der Datenanalyse und -visualisierung weit fortgeschritten. Es unterstützt die Anbindung externer Datenerfassungssysteme und ermöglicht die Echtzeit-Erfassung von Wafer-Testergebnissen. Darüber hinaus ermöglicht die spezialisierte Datenvisualisierungssoftware den Anwendern die schnelle und genaue Analyse von Daten aus mehreren Messungen und die Auswertung der Geräteleistung. Durch die Nutzung des gesamten Leistungsspektrums, das das P-12XL bietet, können Ingenieure höchste Genauigkeit und Zuverlässigkeit durch Wafer-Pegelmessungen erzielen.