Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-12XLm #9193671 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-12XLm ist ein Prober, der für fortgeschrittene Halbleiterprozesstests entwickelt wurde. Dieses leistungsstarke Tool ermöglicht eine zuverlässige Sondierung für eine Vielzahl von Anwendungsszenarien. Dieses Gerät verwendet einen mechanisch betätigten Tastkopf, der konstruiert ist, um eine gleichmäßige und reproduzierbare Kontaktkraft während der Prüfung zu erzielen. Das System verfügt auch über einen Vibrationsunterdrückungsmechanismus, der auch in lauten Umgebungen hochpräzise Erkennungsergebnisse gewährleistet. Der Prober verfügt über eine erweiterte Wafer-Handling-Fähigkeit, die eine schnelle Sondierung von verpackten Teilen, Wafern und Testteilen ermöglicht. Es ist mit einer einzigartigen hochauflösenden optischen Positioniereinheit konzipiert, die eine schnelle und präzise Ausrichtung und Messung bis zu einer Auflösung von 2 μ m ermöglicht. Der Prober verfügt außerdem über eine beheizte Stufe, die eine thermische Stabilität für die Halbleiterprüfung ermöglicht. Dieser Prober eignet sich ideal für Prozesscharakterisierungs- und Qualitätskontrollanwendungen. Der Prober verfügt über eine automatisierte Bedienung und eine Be-/Entladung mit einer rechteckigen Ladefläche, einer doppelten Tragscheibenstütze und einer Ladeschloßtür. Diese Maschine ist in der Lage, von 0,1 μ m bis 1000 μ m unter Beibehaltung eines hohen Durchsatzes zu messen. Es verwendet ein einzelnes Mikroskop sowohl für helle Feld und Dunkelfeld Bildgebung. Der Prober ist mit thermischen Konditionierungsmöglichkeiten ausgelegt, die Temperaturschwankungen von - 20℃ bis 150℃ ermöglichen. Es verfügt auch über eine programmierbare Steuerschnittstelle, mit der der Benutzer Tests konfigurieren und ausführen kann. Weitere erweiterte Funktionen sind automatische Sampler-Kompatibilität, erweiterte Fehlererkennungsfähigkeit und benutzerfreundliche Tool-Management-Software. Insgesamt macht TEL P12XLM die Kombination aus hochpräziser mechanischer Sondierung, Vibrationsreduktion, beheizter Stufe, automatisiertem Betrieb und thermischer Konditionierung zu einer idealen Wahl für fortgeschrittene Halbleiterprozesstests und -charakterisierung.